北京華測功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)HC
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品牌 北京華測
產(chǎn)地 天津
產(chǎn)品名稱 功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)
型號 HC系列
適用范圍 材料測試
是否定制
是否跨境
是否國產(chǎn)
測試功能1 壓電參數(shù)測試功能
測試功能2 熱釋電測試功能
商品介紹

功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)



一、功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢

本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試。與電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容性做了大量的接口。無論在軟件與硬件方面,使本套儀器在未來易于擴展。節(jié)省改造時間與硬件成本。

        性能優(yōu)勢

    華測儀器依托多年高壓控制、測試方面多年的技術(shù)成果,安全保護:增加保護過壓、過流、過溫等技術(shù),an全與可靠。軟件設(shè)計:借鑒品牌,在測試功能、數(shù)據(jù)處理、操作等更加人性化等方面做了大量的改進;測量精度:與品牌儀器做了大量的測試對標,與國內(nèi)航天計量院通力合作;進行檢測計量。保證數(shù)據(jù)的有效與真實。



二、鐵電參數(shù)測試功能

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試;

PUND 脈沖測試;

Fatigue 疲勞測試;

Retention保持力;

Imprint印跡;

Leakage current漏電流測試;

Thermo Measurement 變溫測試功能。



 


 

三、壓電參數(shù)測試功能

可進行壓電陶瓷的準靜態(tài)d33等參數(shù)測試,也可通過高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。


 

四、熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。

薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;

塊體材料變溫范圍:室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800

 

五、介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。


 

六、熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

  用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。

 

 

 

七、絕緣電阻測試功能

高精準度的電壓輸出與電流測量,保障測試的品質(zhì),適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測。例如:陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。

 

八、高溫四探針測試功能

符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。


九、塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,高阻選件高至10MΩ。


十、電卡效應(yīng)測試功能

還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。

溫度范圍:-50℃到200℃、熱流時間范圍:1s-1000s,電壓可達10kV,

波形:用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形。

 

用戶可選擇不同的配置

 


 


定制化服務(wù)

電學(xué)試驗室擁有泰克、是德科技品牌大批檢測設(shè)備;生產(chǎn)制造方面,公司有4軸、5CNC加工中心、精磨床等一大批生產(chǎn)、加工設(shè)備,ISO9001質(zhì)量體系認證,在工裝、夾具定制化方面方便、高效。

 

測試功能

HCTD3000鐵電測試系統(tǒng)具有寬頻率響應(yīng)范圍及寬測試電壓范圍,性價比非常高,滿足了用戶追求高性價的需求。主機內(nèi)置電壓檔位有±10V,±30V,±100V±200V±500V可選。在±10V的內(nèi)置電壓下,電滯回線測試頻率達到2MHz;在±500V的內(nèi)置電壓下,電滯回線測試頻率達到±2kHz。此系統(tǒng)還可外部擴展電壓到4kV10kV,也可加載選件實現(xiàn)壓電、熱釋電和磁電測試功能。此系統(tǒng)包含Vision基本鐵電管理測試軟件。此外還可外部擴展電壓到4kV10kV,Premier II在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線,脈沖,漏電流,IVCV測試,也可加載選件實現(xiàn)壓電、熱釋電、磁電測試和晶體管特性測試功能。

 

標準配置

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;

PUND 脈沖測試:zui小脈沖寬度2μs,上升時間1 μs;Fatigue 疲勞測試,頻率300kHz;

Retention 保持力測試;

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試;

Imprint 印跡;

Leakage current 漏電流測試:100fA to 1A

 

 

測試功能

高溫部分通過近紅外爐,可實現(xiàn)RT~1500°c環(huán)境下測試低溫部分通過冷熱臺實現(xiàn)可實現(xiàn)-180~450°c環(huán)境下測試高、低溫介電溫譜測試頻率I 測試范圍20HZ-30MHZ。

 

 

擴展測試裝置

 

聯(lián)系方式
公司名稱 北京華測試驗儀器有限公司
聯(lián)系賣家 肖工 (QQ:479014311)
電話 ῧῡῧ-ῢῠΰῠῧῡῡῥ
手機 ῡ῟῟ῥῡῠῢῧῨῤῠ
地址 北京市海淀區(qū)
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