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儀器簡介

       XTU系列測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。

   搭配微聚焦射線管和先進的光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。

   檢測78種元素鍍層?0.005um檢出限?最小測量面積0.002mm²?最深凹槽可達90mm。

   外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都沒有難度，讓操作人員輕松自如。

 

 

      

應用領域

   線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

   鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

   手表、精密儀表制造行業(yè)

   釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

   汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測

   衛(wèi)浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

   電鍍液的金屬陽離子檢測

 

性能優(yōu)勢：

   下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm.

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm²的樣品，可測試各微小的部件。

   高效率的接收器：即使測試0.01mm²以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

   精密微型滑軌：快速精準定位樣品。

   EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

 

 

 

項     目	參 數
測量元素范圍	Cl（17）-U（92）
涂鍍層分析范圍	各種元素及有機物
分析軟件	EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析
軟件操作	人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤
X射線裝置	W靶普通射線管
準直器	? 0.2 mm ；? 0.5 mm；準直器任意選擇一種
最近測距光斑擴散度	10%
測量距離	具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察	1/2.5彩色CCD，變焦功能
對焦方式	高敏感鏡頭，手動對焦
放大倍數	光學38-46X，數字放大40-200倍
樣品臺尺寸	500mm*360mm
移動方式	高精密XY手動滑軌
可移動范圍	50mm*50mm
隨機標準片	十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件	聯想電腦一套、噴墨打印機、附件箱

 

 

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