TH2883系列產(chǎn)品是同惠研發(fā)的脈沖式線圈測試儀產(chǎn)品線?？赏暾峁┑蛪?0V到高壓10kV，單通道到多通道（最大8通道）系列線圈測試儀解決方案。

該產(chǎn)品線采用當(dāng)前主流32bit CPU和高密度 SMD貼裝工藝，65k色的7寸寬屏TFT顯示器。操作功能簡潔易用，顯示界面清新亮麗。最低30V，最高10kV涵蓋寬范圍脈沖電壓，低至1uH電感量的線圈測試，高達200Msps的采樣率，6k Bytes的存儲深度，讓您的測試“無微不至”。

TH2883系列根據(jù)輸出電壓不同分為TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三種單通道輸出的型號。TH2883-1是低電感脈沖式線圈測試儀，具有最低30V、最高1200V的脈沖電壓，可測試低至1uH電感量的線圈，是開關(guān)電源等所用電感線圈的理想測試產(chǎn)品。TH2883-5具有100V-5000V的寬范圍脈沖電壓，是測試各種線圈的標(biāo)配產(chǎn)品。TH2883-10具有最高10kV的脈沖輸出電壓，可測試更高絕緣耐壓的匝間測試。若配備TH28831匝間絕緣多路掃描儀可將上述三款單通道測試儀擴展為10通道。

TH2883系列還提供了4通道與8通道兩款多路測試的一體機，他們所對應(yīng)的型號分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5供用戶靈活選擇。

TH2883系列產(chǎn)品標(biāo)配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便您圖形的快速保存，又方便您進行遠程控制。

功能特點

A. 線圈性能分析

線圈類產(chǎn)品（如變壓器、電機等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會產(chǎn)生線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。TH2883系列脈沖式線圈測試儀通過比較被測線圈的衰減振蕩波型與標(biāo)準(zhǔn)波形來判定該繞組的電感、品質(zhì)因素（Q值）、繞組的圈數(shù)差、匝間層間短路，在有導(dǎo)磁材料的情況下還能判斷其材質(zhì)的差別，高壓脈沖下電暈放電的發(fā)生還可以對繞組層間或多個繞組間絕緣不良進行判定。

圖A-1中的自激振蕩衰減波形直接和線圈的電感值 L 及品質(zhì)因素 Q 值有著密切的關(guān)系，而 L 值及 Q 值又和線圈的圈數(shù)、制造工藝、是否空心線圈并且還與導(dǎo)磁材料特性又有著不可分割的關(guān)系。由于施加電壓是高壓脈沖電壓，因此，線圈短路、匝間局部短路或由于絕緣損傷引起的層間或匝間電暈放電現(xiàn)象自然很容易被發(fā)現(xiàn)。

B. 四種波形判斷方法

a) 面積比較方法

如圖 B-1 所示，在任意指定的 A～B 區(qū)間內(nèi)對被測線圈測試波形面積進行(積分)計算，并與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間內(nèi)的面積進行比較，用這兩個波形面積的差異值與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積的百分比作為判定依據(jù)，判定基準(zhǔn)用百分比來設(shè)定。

波形面積近似的與能量損失成正比，所以可以使用面積比較方法來判斷線圈中的能量損耗，有效的檢測線圈層間和匝間短路。

b) 面積差比較方法

如圖 B-2 所示，在任意指定 A～B 區(qū)間內(nèi)對被測線圈測試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形的 Y 軸方向的差異值進行計算(積分計算的結(jié)果為 A～B 區(qū)間內(nèi)的陰影部分)和標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積比較，基準(zhǔn)用百分比來設(shè)定。

面積差比較方法主要表現(xiàn)了電感量 L 的差異和能量的損耗，這個比較方法可以有效的檢測標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測線圈的電感量 L 的差異。

c) 電暈比較方法

如圖 B-3 所示，與波形的差異無關(guān)，在任意指定的 A～B 區(qū)間內(nèi)，僅在被測線圈測試波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進行無損提取，并將計算結(jié)果與設(shè)定值進行比較， 判定電暈放電量是否合格，設(shè)定值是一個整數(shù)。

此方法對線圈內(nèi)部絕緣性能反應(yīng)最明顯。對于線圈絕緣性能要求高的場合需要使用電暈比較方法，因為絕緣性能的好壞直接影響線圈產(chǎn)品的使用壽命到長短。

d) 相位差比較方法

如圖 B-4 所示，用戶可以指定一個需要作比較的過零點，儀器判斷被測線圈測試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形在這個過零點的偏移量，然后和標(biāo)準(zhǔn)波形的振蕩周期作比較，并用這兩個量的百分比作為判斷依據(jù)，基準(zhǔn)用百分比來設(shè)定。如圖中，A～B 間是偏移量，C～D 間是標(biāo)準(zhǔn)波形振蕩周期，設(shè)定的是比較波形的第3個過零點。

此方法主要用來反映電感量差異。線圈不良可以用相位差來判別。