不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量，因此根據(jù)熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉(zhuǎn)動的2e角可以求出x射線的波長入，從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀，可以由通道來判別能量，從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時，仍需人工鑒別。首先識別出管靶材的特征x射線和強峰的伴隨線，然后根據(jù)能量標注剩余譜線。在分析未知譜線時，要同時考慮到樣品的來源、性質(zhì)等元素，以便綜合判斷。

3、X熒光光譜儀定量分析

X射線熒光光譜法進行定量分析的根據(jù)是元素的熒光X射線強度Ii與試樣中該元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據(jù)上式，可以采用標準曲線法、增量法、內(nèi)標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似，否則試樣的基體效應是指樣品的基本化學組成和物理化學狀態(tài)的變化對X射線熒光強度所造成的影響?；瘜W組成的變化，會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收，也會改變熒光增應。例如，在測定不銹鋼中Fe和Ni等元素時，由于一次X射線的激發(fā)會產(chǎn)生Nika熒光X射線，Nika在樣品中可能被Fe吸收，使Fe激發(fā)產(chǎn)生Feka。測定Ni時，因為Fe的吸收效應使結(jié)果偏低，測定Fe時，由于熒光增應使結(jié)果偏高。

重金屬檢測是一項長期的工作，要求各種檢測手段向更高靈敏度、更高選擇性、更方便快捷的方向發(fā)展，不斷推出新的方法來解決遇到的新的分析問題。隨著各種分析方法的建立和科學技術(shù)的不斷進步，分析儀器逐漸由簡單化向復雜化的方向發(fā)展，可以預見，各種分析儀器會向多功能、自動化、智能化以及小型化的方向發(fā)展，并且檢測精度、靈敏度也會得到一定的提高。

化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。

ZSX Primus III+具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由于維護樣品室導致的路徑污染或停止時間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔心并增加了時間。

高精度樣品定位

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常重要。ZSX Primus III+使用一個獨特的光學配置執(zhí)行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導致的錯誤。

SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件

用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個節(jié)省時間的特征僅需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供準確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應。使用匹配庫和的掃描分析程序提高準確性。