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AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀用于PCB底片的檢查
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是根據(jù)底片檢查工藝特性，采用透射的模式即將需要檢查的底片放置在玻璃桌臺(tái)上，而不采用抽真空臺(tái)面，而是通過(guò)玻璃桌面的下的光束透過(guò)玻璃進(jìn)行對(duì)底片的掃描來(lái)檢查底片相應(yīng)位置上的缺陷。
使用AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀對(duì)底片進(jìn)行表面質(zhì)量的檢查，為更加清晰的將印制板表面缺陷呈現(xiàn)出來(lái)，對(duì)該系統(tǒng)的放大裝置作了很大的改進(jìn)，達(dá)到了既是印制板表面的很小的缺陷都能檢查出來(lái)。

AOI測(cè)試及環(huán)境要求
         AOI主要針對(duì)產(chǎn)品的顏色、外觀、尺寸、瑕疵等項(xiàng)目進(jìn)行檢測(cè)分析。而目前我們公司使用的AOI可以對(duì)大于0.2范圍的產(chǎn)品外觀進(jìn)行檢測(cè)。
         AOI在實(shí)際運(yùn)用中，對(duì)測(cè)試環(huán)境的搭建，相機(jī)、鏡頭及光源的選取要求比較嚴(yán)格及。針對(duì)不同的產(chǎn)品，顏色不同，大小不同，測(cè)試環(huán)境及選擇的檢測(cè)設(shè)備也不一同。其中測(cè)試環(huán)境中的光源尤為重要，如果產(chǎn)品測(cè)試面有反光現(xiàn)象，直接會(huì)影響到測(cè)試結(jié)果精準(zhǔn)度。

AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀ALD510設(shè)備技術(shù)參數(shù)
檢測(cè)的電路板：回流爐后、DIP波峰焊后、點(diǎn)膠后、鍵盤字符等
檢測(cè)方法：統(tǒng)計(jì)建模，全彩像比對(duì)，根據(jù)不同檢測(cè)點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定其參數(shù)（如偏移、極性、短路等）
檢測(cè)覆蓋類型：錫膏印刷：有無(wú)、偏移、少錫、多錫、斷路、連錫、污染等
零件缺陷：缺件、偏移、歪斜、立碑、側(cè)立、翻件、錯(cuò)件，OCV、破損、反向等
焊點(diǎn)缺陷：錫多、錫少、虛焊、連錫、銅箔污染等
分辨率/視覺(jué)范圍/速度：（standard）20μm/PixelFOV:32.56×24.72檢測(cè)速度＜210ms/FOV（標(biāo)配）（option）25μm/PixelFOV:40.7×30.9檢測(cè)速度＜230ms/FOV（選配）
小零件測(cè)試：20μm：0201chip&0.3pitchIC
PCB尺寸范圍：50×50(Min)～430×330(Max)

AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀（ALD510）
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀（AOI-AutomatedOpticalInspection）是應(yīng)用于表面貼裝（SMT-SurfaceMountedTechnology）生產(chǎn)流水線上的一種自動(dòng)光學(xué)檢查裝置，可有效的檢測(cè)印刷質(zhì)量、貼裝質(zhì)量以及焊點(diǎn)質(zhì)量。通過(guò)使用AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過(guò)程的早期查找和消除錯(cuò)誤,以實(shí)現(xiàn)良好的過(guò)程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將不良品送到后工序的裝配階段,AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板.
ALD510應(yīng)用用范疇：
SMT爐后檢測(cè)、紅膠溢膠檢測(cè)、AI波峰焊后檢測(cè)、鉚釘裝配檢測(cè)、鍵盤字符檢測(cè)、色環(huán)電阻檢測(cè)