手機可靠性測試流程/手機可靠性測試分類
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手機可靠性測試流程-手機可靠性測試分類

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檢測機構(gòu) 深圳市億博科技有限公司
認證類型 手機可靠性測試
認證費用 聯(lián)系EBO客服報價
周期 5-7個工作日
手機 13620910301
QQ 2355407920
電話 0755-27958201
地址 深圳寶安82區(qū)新安六路勤業(yè)商務(wù)中心112-114
商品介紹


手機在設(shè)計、生產(chǎn)和推向市場期間會經(jīng)過哪些可靠性測試呢?手機可靠性是通過各類試驗進行驗證分析的,在設(shè)計定型前,對手機進行鑒定試驗,驗證手機是否達到規(guī)定的可靠性指標。對批量生產(chǎn)的手機在交付使用時,要通過驗收試驗來對手機的可靠性進行驗收。在手機的使用階段,為了了解手機使用的可靠性水平,要進行手機試用試驗等??梢?,可靠性試驗貫穿于手機的全壽命之中,可靠性試驗是評價手機可靠性的一個重要手段。

手機可靠性測試


影響產(chǎn)品可靠性的極其重要的因素是環(huán)境。環(huán)境因素多種多樣:溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風(fēng)、雷、電、鹽霧、砂塵、振動、沖擊、噪聲、電磁輻射等,都不可避免地對電子產(chǎn)品產(chǎn)生不良影響。

可靠性測試包括六個部分:加速壽命測試,氣候適應(yīng)測試,結(jié)構(gòu)耐久測試,表面裝飾測試,特殊條件測試,及其他條件測試。
1.1. 加速壽命測試ALT (Accelerated Life Test)

樣機標準數(shù)量:
PR1:8臺 PR2:10臺 PR3:10臺 PIR:10臺
試驗周期: 10-12天
測試目的: 通過連續(xù)的施加各種測試條件,加速產(chǎn)品的失效,提前暴露潛在問題。
試驗流程: 見下圖,其中Thermal Shock 和1st Drop測試的時間間隔應(yīng)不超過4小時;Temp/Humidity和2nd Drop測試的時間間隔應(yīng)不超過4小時。每項測試完成都應(yīng)進行表面,外觀,結(jié)構(gòu)和功能檢查。
測試標準:參數(shù)指標正常,功能正常。

1.1.1 室溫下參數(shù)測試 (Parametric Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的: 測試預(yù)檢查
測試方法:使用8960/8922測試儀,參照附件1(下同)項目列表,對所有樣品進行參數(shù)指標預(yù)測試并保存測試結(jié)果。

測試標準:參數(shù)指標正常,功能正常。


1.1.2 溫度沖擊測試(Thermal Shock)
測試環(huán)境:低溫箱:-30° C ;高溫箱:+10° C
測試目的:通過高低溫沖擊進行樣品應(yīng)力篩選
試驗方法:使用高低溫沖擊箱,手機帶電池,設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)先放置于高溫箱內(nèi)持續(xù)45分鐘后,在15秒內(nèi)迅速移入低溫箱并持續(xù)45分鐘后,再15秒內(nèi)迅速回到高溫箱。此為一個循環(huán),共循環(huán)21次。實驗結(jié)束后將樣機從溫度沖擊箱(高溫箱)中取出,恢復(fù)2小時后進行外觀、機械和電性能檢查。對于翻蓋手機,應(yīng)將一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準:手機表面噴涂無異變,結(jié)構(gòu)無異常,功能正常,可正常撥打電話。


1.1.3 跌落試驗(Drop Test)
測試條件:1.5m高度,20mm厚大理石地板。(對于PDA手機,根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m)
測試目的: 跌落沖擊試驗
試驗方法:將手機處于開機狀態(tài)進行跌落。對于直握手機,進行6個面的自由跌落實驗,每個面的跌落次數(shù)為1次,每個面跌落之后進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對于翻蓋手機,進行8個面的自由跌落實驗;其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進行跌落,另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻蓋;對于滑蓋手機,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。跌落結(jié)束后對外觀、結(jié)構(gòu)和功能進行檢查。
試驗標準:手機外觀,結(jié)構(gòu)和功能符合要求。



1.1.4 振動試驗(Vibration Test)
測試條件:振幅:0.38mm/振頻:10~30Hz;振幅:0.19mm/振頻:30~55Hz;
測試目的: 測試樣機抗振性能
試驗方法:將手機開機放入振動箱內(nèi)固定夾緊。啟動振動臺按X、Y、Z三個軸向分別振動1個小時,每個軸振完之后取出進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。三個軸向振動試驗結(jié)束后,對樣機進行參數(shù)測試。
試驗標準:振動后手機內(nèi)存和設(shè)置沒有丟失現(xiàn)象,手機外觀,結(jié)構(gòu)和功能符合要求,參數(shù)測試正常,晃動無異響。


1.1.5 濕熱試驗(Humidity Test)
測試環(huán)境:60° C,95%RH
測試目的: 測試樣機耐高溫高濕性能
試驗方法:將手機處于關(guān)機狀態(tài),放入溫濕度實驗箱內(nèi)的架子上,持續(xù)60個小時之后取出,常溫恢復(fù)2小時,然后進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對于翻蓋手機,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準:手機外觀,結(jié)構(gòu)和功能符合要求。


1.1.6 靜電測試(ESD)
測試條件:+/-4kV~+/-8kV。
測試目的: 測試樣機抗靜電干擾性能
試驗方法:
將樣機設(shè)置為開機狀態(tài),檢查樣機內(nèi)存和功能。(內(nèi)存10條短信息和10個電話號碼;使用功能正常)。將樣機放于靜電測試臺的絕緣墊上,并且用充電器加電使手機處于充電狀態(tài)(樣機與絕緣墊邊緣距離至少2英寸;兩個樣機之間的距離也是至少2英寸)。
打開靜電模擬器,調(diào)節(jié)放電方式,分別選擇+/-4kV(接觸放電),~+/-8kV(空氣放電),對手機指定部位連續(xù)放電10次,并對地放電。每做完一個部位的測試,檢查手機功能、信號和靈敏度,并觀察手機在測試過程中有無死機,通信鏈路中斷,LCD顯示異常,自動關(guān)機及其他異?,F(xiàn)象。
樣機需在與8922測試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進行各個放電方式、級別和極性的測試。
試驗標準:在+/-4Kv 和 +/-8Kv時出現(xiàn)任何問題都要被計為故障。
備注:靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進行定義。


1.1.1室溫下參數(shù)測試 (Parametric Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的: 測試結(jié)束后參數(shù)對比
測試方法:使用8960/8922測試儀,對所有樣品進行參數(shù)指標測試。
測試標準:所有附件1中參數(shù)指標正常,功能正常。

1.2.氣候適應(yīng)性測試 (Climatic Stress Test)
樣品標準數(shù)量:一般氣候性測試 4 臺; 惡劣氣候性測試 2 臺。共8臺。
測試周期:1 天。
測試目的: 模擬實際工作環(huán)境對產(chǎn)品進行性能測試
測試流程:見下圖。
一般氣候性測試 惡劣氣候性測試
A: 一般氣候性測試:

1.2.1.高溫/低溫參數(shù)測試(Parametric Test)
測試環(huán)境:-10° C /+55° C
測試目的:高溫/低溫應(yīng)用性性能測試
試驗方法:將手機電池充滿電,手機處于開機狀態(tài),放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上,調(diào)節(jié)溫度控制器到-10° C /+55° C。持續(xù)2個小時之后在此環(huán)境下進行電性能參數(shù)和功能檢查。對于翻蓋手機,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準:手機電性能參數(shù)指標滿足要求,功能正常,外殼無變形。
測試環(huán)境:+45° C,95%RH
測試目的:高溫高濕應(yīng)用性性能測試
試驗方法:將手機電池充滿電,手機處于開機狀態(tài),放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)48個小時之后,然后在此環(huán)境下進行電性能檢查,檢查項目見附表1。對于翻蓋手機,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準:手機電性能指標滿足要求,功能正常,外殼無變形。

1.2.3.高溫/低溫功能測試(Functional Test)
測試環(huán)境:-40° C /+10° C
測試目的:高溫/低溫應(yīng)用性功能測試
試驗方法:將手機處于關(guān)機狀態(tài),放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)24個小時之后,取出,并放置2小時,恢復(fù)至常溫,然后進行結(jié)構(gòu),功能和電性能檢查。對于翻蓋手機,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準:手機電性能指標滿足要求,功能正常,外殼無變形。
B:惡劣氣候性測試



1.2.4.灰塵測試(Dust Test)
測試環(huán)境:室溫
測試目的:測試樣機結(jié)構(gòu)密閉性
試驗方法:將手機關(guān)機放入灰塵實驗箱內(nèi)。灰塵大小300目,持續(xù)3個小時之后,將手機從實驗箱中取出,用棉布和離子風(fēng)槍清潔后進行檢查。對于翻蓋手機,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機,應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標準:手機各項功能正常,所有活動元器件運轉(zhuǎn)自如,顯示區(qū)域沒有明顯灰塵。



1.2.5.鹽霧測試(Salt fog Test)
測試環(huán)境:35° C
測試目的:測試樣機抗鹽霧腐蝕能力
試驗方法:
溶液含量:5%的氯化鈉溶液。
將手機關(guān)機放在鹽霧試驗箱內(nèi),合上翻蓋,樣機用繩子懸掛起來,以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。
樣機需要立即被放入測試箱。實驗周期是48個小時。實驗過程中樣機不得被中途取出,如果急需取出測試,要嚴格記錄測試時間,該實驗需向后延遲相同時間。
取出樣機后,用棉布和離子風(fēng)槍清潔,放置48小時進行常溫干燥后,對其進行外觀、機械和電性能檢查。
試驗標準:手機各項功能正常,外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕等異?,F(xiàn)象。



1.3.結(jié)構(gòu)耐久測試 (Mechanical Endurance Test)
樣品標準數(shù)量:11 臺。
測試周期:1 天。
測試流程:
測試標準:


1.3.1.按鍵測試(Keypad Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:按鍵壽命測試
測試數(shù)量:2臺手機。
測試方法:將手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上,導(dǎo)航鍵及其他任意鍵進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。實驗中被測試的鍵的選擇根據(jù)不同機型進行確定并參考工程師的建議,應(yīng)盡量不重復(fù),盡可能多。
試驗標準:手機按鍵彈性及功能正常。


1.3.2.側(cè)鍵測試(Side Key Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:側(cè)鍵壽命測試
測試數(shù)量:1臺手機
測試方法:將手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上,對側(cè)鍵進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。
試驗標準:手機按鍵彈性及功能正常。


1.3.3.翻蓋測試(Flip Life Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:翻蓋壽命測試
測試數(shù)量:4臺手機。
測試方法:將手機設(shè)置成開機狀態(tài),固定在測試夾具上,進行5萬次開合翻蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次 、5萬次時進行手機翻蓋彈性及功能一次。
試驗標準:5萬次后,手機外觀,結(jié)構(gòu),及功能正常。


1.3.4.滑蓋測試(Slide Life Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:滑蓋壽命測試
測試數(shù)量:4臺手機。
測試方法:將手機設(shè)置成開機狀態(tài),固定在測試夾具上,進行5萬次滑蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次 、5萬次時進行手機滑蓋手感及功能一次。
試驗標準:5萬次后,手機外觀,結(jié)構(gòu),及功能正常,滑蓋不能有松動(建議:垂直手機時不能有自動下滑的現(xiàn)象)


1.3.5. 重復(fù)跌落測試(Micro-Drop Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);1cm高度 ,20mmPVC板
測試目的:樣機跌落疲勞測試
測試數(shù)量:2臺。
測試方法:手機處于開機狀態(tài),做手機正面及背面的重復(fù)跌落實驗,每個面的跌落次數(shù)為20,000次。進行到1萬次、1.5萬次、1.8萬次、2萬次時各檢查對手機進行外觀、機械和電性能的中間檢查。
測試標準:手機各項功能正常,外殼無變形、破裂、掉漆,顯示屏無破碎,晃動無異響。


1.3.6. 充電器插拔測試(Charger Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:充電器插拔]壽命測試
測試數(shù)量:2臺手機。
試驗方法:將充電器接上電源,連接手機充電接口,等待手機至充電界面顯示正常后,拔除充電插頭。在開機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進行到2000次、2500次和3000次時進行中間/結(jié)束檢查一次。
檢驗標準:I/O接口無損壞,焊盤無脫落,充電功能正常。無異常手感。


1.3.7.筆插拔測試(Stylus Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:手機手寫筆插拔壽命測試
測試數(shù)量:2臺手機。
試驗方法:將手機處于開機狀態(tài),筆插在手機筆插孔內(nèi),然后拔出,反復(fù)20,000次。進行到1萬次、1萬5千次、1萬8千次、2萬次時檢查手機筆插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆是否正常。
檢驗標準:手機筆輸入功能正常,插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆均正常。

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