微觀形貌檢測儀 三維光學(xué)表面輪廓儀/表面形貌/粗糙度
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微觀形貌檢測儀 三維光學(xué)表面輪廓儀/表面形貌/粗糙度
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微觀形貌檢測儀-三維光學(xué)表面輪廓儀-表面形貌-粗糙度

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蘇州盟訊電子有限公司主營:導(dǎo)光板熱壓設(shè)備,激光打點設(shè)備,背光鍵盤熱壓設(shè)備,自動收放卷




光學(xué)影像測量儀檢測是一種常見測量技術(shù),通過提供了量化的圖像測量方式,獲得測量數(shù)據(jù),從而對零部件公差尺寸進(jìn)行把控,是機械、電子制造業(yè),計量測試所廣泛使用的一種多用途計量儀器。

影像測量儀的誤差來源有哪些呢? (1)光柵尺記數(shù)的偏差; (2)操作臺挪動時存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; (3)操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; (4)攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; (5)精l確測量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; (6)燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動對焦和指向偏差。



三維形貌測量儀對于樣品表面特性研究案例


材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對于其表面特性的影響。因此,高分辨率分析表面形貌對確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。

符合國際標(biāo)準(zhǔn)的NanoFocus測量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測量需求,滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化,這意味著在縮短開發(fā)時間的同時降低成本。





隨著半導(dǎo)體技術(shù)的電子技術(shù)工藝的發(fā)展,電子產(chǎn)品都往小型化,輕薄化發(fā)展。iWatch的一經(jīng)推出,穿戴電子產(chǎn)品成為了一個新的電子設(shè)備應(yīng)用潮流。隨著電子產(chǎn)品的小型化,器件體積越做越小,空間就緊湊起來,這對器件加工尺寸及工藝的容差要求就越來越高。

這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術(shù),能夠高l精度還原產(chǎn)品的3D結(jié)構(gòu),對肉眼不可見的結(jié)構(gòu)缺陷都能準(zhǔn)確檢測。因為具有較快的掃描速度,微米級別的精度和超l強的穩(wěn)定性,一經(jīng)推出立馬成為精密生產(chǎn)商的新寵。在精密鑄件、精密點膠、3D玻璃,半導(dǎo)體缺陷檢測和多層光學(xué)薄膜厚度檢測,就是這款產(chǎn)品的主要應(yīng)用領(lǐng)域。






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