北京京國藝科技發(fā)展有限公司
主營產(chǎn)品: 其他光學(xué)儀器
便攜式RoHS測試儀-京國藝-臺式RoHS測試儀公司
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钳钶钴钳钳钸钼钻钴钸钸
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RoHS分析儀的分析原理
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對簡單。
如需了解更多RoHS分析儀的相關(guān)信息,歡迎關(guān)注北京京國藝科技發(fā)展有限公司網(wǎng)站或撥打圖片上的熱點電話,我司會為您提供專業(yè)、周到的服務(wù)。
RoHS檢測儀的技術(shù)參數(shù)
以下內(nèi)容由北京京國藝科技發(fā)展有限公司為您提供,希望對同行業(yè)的朋友有所幫助。
◇ 分析時間:兩分鐘左右◇ 分析誤差:符合GB223.3~5~1988等國家標準
◇ 分析方法:采用機外溶樣,光電比色法。
◇ 標樣曲線:記憶貯存90條曲線(可根據(jù)用戶需要任意增加),采用回歸方法,建立曲線方程。
◇ 輸入輸出方式:品牌電腦控制、數(shù)據(jù)導(dǎo)出的格式可根據(jù)實驗室要求任意設(shè)置,打印機輸出。
如改變測試條件,該范圍可相應(yīng)擴大。
RoHS分析儀的分析原理
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特點信息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:
Q=kE式中,E為入射射線的光子能量;Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特點信息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
期望大家在選購RoHS分析儀時多一份細心,少一份浮躁,不要錯過細節(jié)疑問。想要了解更多RoHS分析儀的相關(guān)資訊,歡迎撥打圖片上的熱線電話!?。?