丞普諾儀器 進口膜厚儀 湖州膜厚儀安裝
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丞普諾儀器-進口膜厚儀-湖州膜厚儀安裝

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丞普諾儀器(蘇州)有限公司

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有色金屬分析儀

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商品參數(shù)
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商品介紹
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品牌 丞普諾儀器
型號 XTU-A
類別 下照式
儀器尺寸 550mm*480mm*470mm
儀器重量 45KG
XY軸工作臺移動范圍 50mm*50mm
XY軸工作臺最大承重 5KG
測量元素范圍 CI(17)-U(92)
不同層相同元素檢查能力 選配
涂鍍層分析范圍 CI(17)-U(92)
分析軟件 同時分析23個鍍層24種元素
X射線裝置 微聚焦射線管
準直器 φ0.5mm、φ0.2mm兩準直器任選一種
測量距離 具有距離補償功能,可改變測量距離測量凹凸異行物品,變焦距離可達0-30mm
對焦方式 高敏感鏡頭,手動對焦
樣品臺移動 手動無滑軌
其他附件 電腦一套,噴墨打印機,附件箱,12元素片,電鍍液測量杯(選配)標準片(選配)
商品介紹

丞普諾儀器(蘇州)有限公司產(chǎn)品完全可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術人才具有豐富的設計制造經(jīng)驗。多年來與各大學、科研院所保持著緊密的合作關系。

膜厚儀的使用:

測定準備

(1)確保電池正負極方向正確無誤后設定。

(2)探頭的選擇和設定:在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象,在本體上進行設定。

測定方法

(1)探頭的選擇和安裝方法:確認電源處于OFF狀態(tài),與測定對象的質(zhì)地材質(zhì)接觸,安裝LEP-J或LHP-J。

(2)調(diào)整:確認測定對象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時要進行調(diào)整。

(3)測定:在探頭的末端加一定的負荷,即使用[一點接觸定壓式]。抓住與測定部接近的部分,迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定,每次都要從探頭的前端測定面開始離開10以上。使用管狀的東西連續(xù)測定平面時,如果采用探頭適配器,可以更加穩(wěn)定地進行測定。

膜厚測試儀,分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

膜厚儀電渦流測量原理:

高頻交流在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區(qū)別是測頭不同,的頻率不同,的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10的高水平。

膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設備,它在平時的使用中對于精準度的要求很高,但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生,除了儀器本身的一些故障以外,環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇”,本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關說明:

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

6、試件的變形

測量頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

7、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度,影響。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點。

8、磁場

周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場,會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

9、附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。

10、測量頭壓力

測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。

11、測量頭的取向

測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應當使測量頭與試樣表面保持垂直。

丞普諾儀器(蘇州)有限公司另設有化學儀器事業(yè)部,產(chǎn)品涵蓋ROHS檢測儀、X-RAY、鍍層測厚儀、直讀光譜儀、高效液相色譜儀、GC-MS質(zhì)譜氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀、ICP電感耦合光譜儀、AAS原子吸收分光光度計、微波消解、紫外分光光度計等,并針對重金屬環(huán)保檢測、生物檢測、有害物質(zhì)分析、材料成分及表面分析、提供進的檢測儀器及整套實驗室構建、耗材、培訓等一站式解決方案。

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公司名稱 丞普諾儀器(蘇州)有限公司
聯(lián)系賣家 李女士
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地址 江蘇省蘇州市