丞普諾儀器 熒光光譜測厚儀 東莞日立測厚儀價(jià)格
丞普諾儀器 熒光光譜測厚儀 東莞日立測厚儀價(jià)格
丞普諾儀器 熒光光譜測厚儀 東莞日立測厚儀價(jià)格
丞普諾儀器 熒光光譜測厚儀 東莞日立測厚儀價(jià)格
丞普諾儀器 熒光光譜測厚儀 東莞日立測厚儀價(jià)格
丞普諾儀器 熒光光譜測厚儀 東莞日立測厚儀價(jià)格

丞普諾儀器-熒光光譜測厚儀-東莞日立測厚儀價(jià)格

價(jià)格

訂貨量(臺(tái))

¥148000.00

≥1

聯(lián)系人 李女士

䝒䝕䝔䝘䝓䝐䝔䝑䝏䝏䝒

發(fā)貨地 江蘇省蘇州市
進(jìn)入商鋪
掃碼查看

掃碼查看

手機(jī)掃碼 快速查看

在線客服

丞普諾儀器(蘇州)有限公司

店齡6年 企業(yè)認(rèn)證

聯(lián)系人

李女士

聯(lián)系電話

䝒䝕䝔䝘䝓䝐䝔䝑䝏䝏䝒

經(jīng)營模式

生產(chǎn)廠家

所在地區(qū)

江蘇省蘇州市

主營產(chǎn)品

有色金屬分析儀

進(jìn)入店鋪
收藏本店

如果這是您的商鋪,請(qǐng)聯(lián)系我們

商品參數(shù)
|
商品介紹
|
聯(lián)系方式
品牌 丞普諾儀器
型號(hào) XTU-A
類別 下照式
儀器尺寸 550mm*480mm*470mm
儀器重量 45KG
XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍 50mm*50mm
XY軸工作臺(tái)最大承重 5KG
測量元素范圍 CI(17)-U(92)
不同層相同元素檢查能力 選配
涂鍍層分析范圍 CI(17)-U(92)
分析軟件 同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素
X射線裝置 微聚焦射線管
準(zhǔn)直器 φ0.5mm、φ0.2mm兩準(zhǔn)直器任選一種
測量距離 具有距離補(bǔ)償功能,可改變測量距離測量凹凸異行物品,變焦距離可達(dá)0-30mm
對(duì)焦方式 高敏感鏡頭,手動(dòng)對(duì)焦
樣品臺(tái)移動(dòng) 手動(dòng)無滑軌
其他附件 電腦一套,噴墨打印機(jī),附件箱,12元素片,電鍍液測量杯(選配)標(biāo)準(zhǔn)片(選配)
商品介紹

丞普諾儀器(蘇州)有限公司主營產(chǎn)品有:視頻接觸角測定儀、張力儀、水滴角檢測儀、表、界面儀器的設(shè)計(jì)與開發(fā)、模具保護(hù)監(jiān)視器、視覺類等檢測儀器的定制與開發(fā)。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚測試儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。

膜厚測試儀,分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備,它在平時(shí)的使用中對(duì)于精準(zhǔn)度的要求很高,但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生,除了儀器本身的一些故障以外,環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇”,本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明:

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對(duì)測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

6、試件的變形

測量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

7、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測量有影響。粗糙程度,影響。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

8、磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

9、附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。

10、測量頭壓力

測量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。

11、測量頭的取向

測量頭的放置方式對(duì)測量有影響。在測量中,應(yīng)當(dāng)使測量頭與試樣表面保持垂直。

X射線膜厚儀能滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求,φ0.1的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求。高精度平臺(tái)可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005。采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度,定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對(duì)齊。鼠標(biāo)可控制平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)。高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。良好的射線屏蔽作用,測試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

丞普諾儀器(蘇州)有限公司另設(shè)有化學(xué)儀器事業(yè)部,產(chǎn)品涵蓋ROHS檢測儀、X-RAY、鍍層測厚儀、直讀光譜儀、高效液相色譜儀、GC-MS質(zhì)譜氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀、ICP電感耦合光譜儀、AAS原子吸收分光光度計(jì)、微波消解、紫外分光光度計(jì)等,并針對(duì)重金屬環(huán)保檢測、生物檢測、有害物質(zhì)分析、材料成分及表面分析、提供進(jìn)的檢測儀器及整套實(shí)驗(yàn)室構(gòu)建、耗材、培訓(xùn)等一站式解決方案。

聯(lián)系方式
公司名稱 丞普諾儀器(蘇州)有限公司
聯(lián)系賣家 李女士
手機(jī) 䝒䝕䝔䝘䝓䝐䝔䝑䝏䝏䝒
地址 江蘇省蘇州市