丞普諾儀器（蘇州）有限公司一家從事精密檢測儀器設備的銷售，培訓，維修維護，并提供配套應用分析及實驗室建構(gòu)方案的一家專屬公司。

熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

X射線膜厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。鼠標可控制平臺，鼠標點擊的位置就是被測點。高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。

鍍層膜厚儀，簡稱為，鍍層厚度檢測儀，是用來測量，金鎳，銅厚，等，鍍層的厚度的標準儀器。鍍層膜厚儀，簡稱為，鍍層厚度檢測儀，是用來測量，金鎳，銅厚，等，鍍層的厚度的標準儀器。檢測鍍層厚度也有一定要求，鍍層厚度要求分散能力是具有比較性質(zhì)，其比較的基準是初次電流分布。鍍層厚度要求在零件上均勻分布的能力越高，該電鍍?nèi)芤旱姆稚⒛芰驮胶谩?/p>

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