丞普諾儀器（蘇州）有限公司主營產(chǎn)品有：視頻接觸角測定儀、張力儀、水滴角檢測儀、表、界面儀器的設(shè)計與開發(fā)、模具保護監(jiān)視器、視覺類等檢測儀器的定制與開發(fā)。

膜厚儀主要性能優(yōu)勢：采用極速探測器技術(shù)；探測信噪比更強，檢出限更低；采用大功率X光管及的數(shù)字多道技術(shù)；光閘系統(tǒng)，提高測試效率與測試精度；精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測試點；多點測試，多點連續(xù)測試超小樣品檢測；人性化的設(shè)計：更安全、更快捷：預(yù)約預(yù)熱：預(yù)約關(guān)機。

膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備，它在平時的使用中對于精準度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應(yīng)

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

6、試件的變形

測量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

7、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度，影響。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

8、磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

9、附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。

10、測量頭壓力

測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

11、測量頭的取向

測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當使測量頭與試樣表面保持垂直。

膜厚測試儀的工作原理，當心損壞機器

涂鍍層測厚儀的相關(guān)工作原理之近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制丈量信號。還采用設(shè)計的集成電路，引入微機，使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進步(幾乎達一個數(shù)目級)。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達磁感應(yīng)測厚儀_電渦流丈量原理_磁吸力丈量原理及測厚儀_電渦流原理的測厚儀到0.1um，應(yīng)誤差達1%，量程達10。

丞普諾儀器（蘇州）有限公司另設(shè)有化學(xué)儀器事業(yè)部，產(chǎn)品涵蓋ROHS檢測儀、X-RAY、鍍層測厚儀、直讀光譜儀、高效液相色譜儀、GC-MS質(zhì)譜氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀、ICP電感耦合光譜儀、AAS原子吸收分光光度計、微波消解、紫外分光光度計等，并針對重金屬環(huán)保檢測、生物檢測、有害物質(zhì)分析、材料成分及表面分析、提供進的檢測儀器及整套實驗室構(gòu)建、耗材、培訓(xùn)等一站式解決方案。