丞普諾儀器（蘇州）有限公司一家從事精密檢測儀器設(shè)備的銷售，培訓(xùn)，維修維護，并提供配套應(yīng)用分析及實驗室建構(gòu)方案的一家專屬公司。

膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

膜厚儀磁感應(yīng)測量原理：

膜厚儀采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該放大后來指示覆層厚度。一些電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量。還采用專利設(shè)計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10。

膜厚儀特點

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行準確測量（需要配合純材料）,為您節(jié)省購買標準片的成本.完全超越其他品牌的所謂FP軟件.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

膜厚儀電渦流測量原理：

高頻交流在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，的頻率不同，的大小、標度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10的高水平。

丞普諾儀器（蘇州）有限公司另設(shè)有化學(xué)儀器事業(yè)部，產(chǎn)品涵蓋ROHS檢測儀、X-RAY、鍍層測厚儀、直讀光譜儀、高效液相色譜儀、GC-MS質(zhì)譜氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀、ICP電感耦合光譜儀、AAS原子吸收分光光度計、微波消解、紫外分光光度計等，并針對重金屬環(huán)保檢測、生物檢測、有害物質(zhì)分析、材料成分及表面分析、提供進的檢測儀器及整套實驗室構(gòu)建、耗材、培訓(xùn)等一站式解決方案。