丞普諾儀器（蘇州）有限公司一家從事精密檢測(cè)儀器設(shè)備的銷售，培訓(xùn)，維修維護(hù)，并提供配套應(yīng)用分析及實(shí)驗(yàn)室建構(gòu)方案的一家專屬公司。

膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測(cè)設(shè)備，它在平時(shí)的使用中對(duì)于精準(zhǔn)度的要求很高，但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

6、試件的變形

測(cè)量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

7、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度，影響。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

8、磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

9、附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)量頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

10、測(cè)量頭壓力

測(cè)量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

11、測(cè)量頭的取向

測(cè)量頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)量頭與試樣表面保持垂直。

膜厚儀的使用：

測(cè)定準(zhǔn)備

（1）確保電池正負(fù)極方向正確無誤后設(shè)定。

（2）探頭的選擇和設(shè)定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對(duì)準(zhǔn)測(cè)定對(duì)象，在本體上進(jìn)行設(shè)定。

測(cè)定方法

（1）探頭的選擇和安裝方法：確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài)，與測(cè)定對(duì)象的質(zhì)地材質(zhì)接觸，安裝LEP-J或LHP-J。

（2）調(diào)整：確認(rèn)測(cè)定對(duì)象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時(shí)要進(jìn)行調(diào)整。

（3）測(cè)定：在探頭的末端加一定的負(fù)荷，即使用[一點(diǎn)接觸定壓式]。抓住與測(cè)定部接近的部分，迅速在與測(cè)定面成垂直的角度按下。下述的測(cè)定，每次都要從探頭的前端測(cè)定面開始離開10以上。使用管狀的東西連續(xù)測(cè)定平面時(shí)，如果采用探頭適配器，可以更加穩(wěn)定地進(jìn)行測(cè)定。

膜厚儀電渦流測(cè)量原理：

高頻交流在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，的頻率不同，的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10的高水平。

膜厚儀特點(diǎn)

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析三層厚度,獨(dú)有的FP分析軟件,真正做到無厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量（需要配合純材料）,為您節(jié)省購買標(biāo)準(zhǔn)片的成本.完全超越其他品牌的所謂FP軟件.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.

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