丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品完全可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計(jì)制造經(jīng)驗(yàn)。多年來與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。

膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備，它在平時(shí)的使用中對(duì)于精準(zhǔn)度的要求很高，但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對(duì)測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

6、試件的變形

測量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

7、表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測量有影響。粗糙程度，影響。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

8、磁場

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

9、附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。

10、測量頭壓力

測量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

11、測量頭的取向

測量頭的放置方式對(duì)測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測量頭與試樣表面保持垂直。

膜厚儀主要性能優(yōu)勢：采用極速探測器技術(shù)；探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低；采用大功率X光管及的數(shù)字多道技術(shù)；光閘系統(tǒng)，提高測試效率與測試精度；精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測試點(diǎn)；多點(diǎn)測試，多點(diǎn)連續(xù)測試超小樣品檢測；人性化的設(shè)計(jì)：更安全、更快捷：預(yù)約預(yù)熱：預(yù)約關(guān)機(jī)。

丞普諾儀器（蘇州）有限公司以誠信、實(shí)力和質(zhì)量獲得業(yè)界的高度認(rèn)可，堅(jiān)持以客戶為核心，“質(zhì)量到位、服務(wù)”的經(jīng)營理念為廣大客戶提供的服務(wù)。