廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營業(yè)務有：進口直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，光電直讀光譜儀，手持直讀光譜儀，臺式直讀光譜儀等等

淺談臺式光譜儀和手持式光譜儀之間的區(qū)別

隨著光譜儀的應用范圍越來越廣泛，光譜儀的種類也越來越多。本文主要聊聊臺式光譜儀和手持光譜儀的區(qū)別，一起來看看吧。

臺式光譜儀的特點：移動不方便，需求在特定情況下運行，控制方面也很復雜。因此，操縱員工的技能水平很高。臺式光譜儀的其余部分是對被測物體的需求破壞分析。

常用的工作臺界限：鍛造，鋼鐵，金屬接收和冶煉以及軍事，航空航天，天i然氣，化工，高等院校，商檢，質檢等單位。

手持式光譜儀特點：與桌面直觀的功能相比，它體積小，重量輕，攜帶方便。此外，手持式光譜儀可用于現(xiàn)場調(diào)查，無需像桌面那樣的特定職業(yè)情況，也許可以做到快速和非破壞性效果不會損壞被測物體。盡管手持式光譜儀的測量值相對低于臺式分析結構的測量值。

手持式通用限制：漏電i，石油化工，考古，金屬加工，壓力容器，廢料接收，航空航天，地質勘探，礦山測繪，挖掘，礦石分選，采i礦貿(mào)易，金屬冶煉，情況監(jiān)測，土壤監(jiān)測，玩具，時裝，鞋帽，電子產(chǎn)品等。

光譜儀概述

光譜儀( Spectroscope)又稱分光儀。以光電倍增管等光探測器在不同波長位置，測量譜線強度的裝置。其構造由一個入射狹縫，1個色散系統(tǒng)，一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。是將成分復雜的光分解為光譜線的科學儀器，由棱鏡或衍射光柵等構成，利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。

廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營：火花直讀光譜儀，光譜機，金屬材料分析儀，金屬元素分析儀，金屬成分分析儀，進口直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，光電直讀光譜儀等等

火花直讀光譜儀應用前景分析

利用火花直讀光譜儀進行非金屬元素/夾雜物的測定，目前還不是很理想，需要進一步研究。納克高宏斌先生、斯派克王彥彪先生、煙臺東方趙珍陽先生均認為目前火花直讀光譜儀測定氮尤其是高含量氮已經(jīng)比較常規(guī)，但測定氧、碳、氫元素還比較困難。裴雷先生認為：“要測定C,S,O,N,H等元素，不只對儀器有要求，還要求相關配套的標準樣品，檢測方法標準也要向前發(fā)展?！迸＝騼x器的諸煒先生也表示：“根據(jù)研究顯示：利用火花直讀光譜儀進行酸溶鋁測定的結果與濕法分析結果之間時常出現(xiàn)偏差，所以進行夾雜物的分析還不是很成熟?！?

影響手持式光譜儀射線強度因素

手持式光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強度為依據(jù)的，影響手持式光譜儀射線強度的因素會影響分析的準確度，以下是主要兩大影響因素

1、基體效應

基體效應包括吸收效應及增強i效應吸收效應包括基體對入射X射線的吸收及對熒光X射線的吸收。因為用射線激發(fā)樣品時，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中，這兩種X射線都會因基體元素的吸收而使射線強度減弱，射線減弱會影響對分析元素的激發(fā)效率。

如果入射X射線使基體元素激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線的波長稍短于分析元素的吸收邊，它會使分析元素產(chǎn)生二次熒光X射線，從而使分析元素的熒光X射線強度增強，這就是基體的增強i效應。

如果吸收效應占主導地位，則分析結果偏低，如果增強i效應占主導地位，則分析結果偏高。

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維修直讀光譜儀基本準則

先軟后硬

先檢查軟件程序運行是否正常，再分析硬件運行是否有問題。如當儀器顯示真空不良、溫度異常、壓力異常、無積分信號、通訊中斷等顯示時，我們必須是在此基礎之上，順藤摸瓜沿電腦指示的異常信息，去檢查所對應的硬件，這樣可以很快的找到故障的根源，縮短維修時間，提高工作效率i。

先外后內(nèi)

先檢查儀器外圍設施，再檢查儀器本身。儀器突然整機停電不工作了，首先檢查儀器的外圍情況，如冷卻水是否中斷，水泵或水閘閥是否異常，燃氣或輔助氣氣壓是否偏低或過高，電磁閥是否失電或斷路，電氣開關或空氣開關是否跳閘，各外部接插件是否脫落等。然后再尋找儀器本身內(nèi)部的問題。

手持式光譜儀工作原理

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內(nèi)層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。

當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。