深圳市億昇精密光電科技有限公司
主營產(chǎn)品: 焊接設(shè)備
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AOI的優(yōu)點包括:減少編程時間地減少誤報? 改善失效檢查。制定設(shè)計方針,可以有效地簡化檢查和顯著地降低生 產(chǎn)成本。Viscom AG 和 KIRRON GmbH &Co KG 合作開發(fā) 出一項特殊測試方案,目的是為了從根本上研究和證明這 些設(shè)計在檢查中產(chǎn)生的效果。基于IPC-7350標(biāo)準的PCB布 局被推薦為針對這些測試的基準。首先,為了探究每一種 布局的檢查效果,建議在大量PCB布局上采用這種基準; 之后,再有意地利用PCB錯誤布局,使得它產(chǎn)生一些工藝 中的缺陷,如立碑和引腳懸空等。
AOI檢查庫,圍繞工藝的環(huán)境產(chǎn)生消極影響,必須通過幾個途徑降低到小,以滿足頭工作的要求。
● AOI全球檢查庫──對部分AOI制造商的標(biāo)定工具進行調(diào)整是極為重要的,所以,這些變化能夠傳遞到照相機和照明模塊上。
● 對于不同產(chǎn)品的AOI全球檢查庫,有可能在當(dāng)?shù)剡M行調(diào)整──這是AOI軟件必備的特性。
● 貼片公差——進料器常規(guī)的維護和校準。
● 確定檢查質(zhì)量:IPC標(biāo)準2級——必須允許使用朝下的電阻器。組件趐起和共面性的檢測必須可靠。
AOI產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個領(lǐng)域,為客戶提供高檢出、低誤報、簡單易用、功能強大的視覺檢查系統(tǒng)。
近年來軟件方面, 使用了很多電路板圖像的檢測算法, 這些算法大致可分為三大類: 有參考比較算法、無參考校驗法以及混合型算法。有參考比較算法分為兩大類, 圖像對比法和模型對比法。這類方法算法簡單, 容易實現(xiàn), 但是它不容易檢測線寬、線距違例等瑕疵。無參考校驗法不需要任何參考圖象, 它依據(jù)預(yù)先定義的 PCB 的設(shè)計規(guī)則來判斷待檢 PCB 圖象是否有瑕疵, 如果它不符合設(shè)計規(guī)則, 就認為有瑕疵, 因此也稱為設(shè)計規(guī)則校驗法。這類方法雖然在榆測線寬、線距違例這類瑕疵時能夠收到很好的效果, 但是其算法復(fù)雜, 運算量很大, 而且易漏柃線、焊盤丟失等大瑕疵?;旌闲头椒ㄊ菍⒂袇⒖急容^算法與無參考校驗法混合使用, 在一定程度上克服了前兩類方法的缺點,從而發(fā)揮它們各自的優(yōu)點。比如, 模板匹配法與數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)方法結(jié)合使用, 或者連接表方法與數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)方法結(jié)合使用等。但當(dāng)前這種方法還不足很成熟, 其算法復(fù)雜, 不能滿足實時檢測的要求, 且自適應(yīng)性不夠, 系統(tǒng)擴展能力差。當(dāng)前 AOI 檢測系統(tǒng)圖像處理基本上采用的是參考算法, 國外進口品牌大多使用圖像匹配、法則判別登多種組合手段。