近些年來(lái)，X射線儀器仍然取得了巨大的進(jìn)步，如：全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）、聚焦微束X射線熒光光譜儀（μXRF）、偏振X射線熒光光譜儀（EDPXRF）等相繼商品化。

WDXRF光譜儀近年同樣取得了顯著的技術(shù)進(jìn)步：

X射線管

1) 4KW大功率: 4KW薄窗 X 射線管，對(duì)于 19K~92U 元素范圍的重元素，提高靈敏度30%以上，對(duì)于 4Be~17Cl 元素范圍的輕元素，提高靈敏度 70%以上。同時(shí)，4KW 薄窗X 射線管的冷卻方式的改進(jìn)，以及 X 射線發(fā)生器控制方式的發(fā)展，使得 4KW 薄窗 X 射線管在應(yīng)用上的可靠性大大增強(qiáng)。 X 射線管功率也有小型化趨勢(shì)，使自身的體積縮小, 而且無(wú)需外冷卻水循環(huán)系統(tǒng)，如200w X射線管，性?xún)r(jià)比高、使用成本低，適用于要求固定的用戶(hù)。

2) 鈹( Be) 窗超薄化: X 射線管的鈹窗厚度一般為75~ 125um, 有的產(chǎn)家的X射線管的鈹窗厚度僅有30um, 這樣大大提高了初級(jí)X 射線的透射率。薄窗光管對(duì)Be, B, C, N等超輕元素的分析，對(duì)微量樣品分析，微區(qū)分析的發(fā)展起著極大動(dòng)作用。

3) 光管端窗超銳化: 這種超銳X射線管外形獨(dú)特, 頭部尖細(xì), 內(nèi)部采用陶瓷絕緣, 其設(shè)計(jì)更加緊湊、合理、。窗口至樣品的距離 較常規(guī)端窗管短( 約 16mm) , 大大提高了X 射線輻照強(qiáng)度。而且, 由于采用優(yōu)良的絕緣和長(zhǎng)壽命的燈絲, 延長(zhǎng)了X 射線管的使用壽命。

4) 光管雙靶化: 為了使輕重元素都能獲 得激發(fā)效率, 一些儀器廠家將光管設(shè)置 成雙靶型。如日本株式會(huì)社理學(xué)。

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀，快速定量元素分析的高性能WDXRF！

上照射式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

ZSX Primus III+

理學(xué)ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測(cè)定，從氧（O）到鈾（U）的標(biāo)準(zhǔn)的廣泛樣品類(lèi)型。

高度可靠性的上照射式光學(xué)系統(tǒng)

ZSX Primus III+具有場(chǎng)新的上照射式光學(xué)配置。用戶(hù)再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

高精度樣品定位

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對(duì)例如合金分析等需要高精度的應(yīng)用非常重要。ZSX Primus III+使用一個(gè)獨(dú)特的光學(xué)配置執(zhí)行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導(dǎo)致的錯(cuò)誤。

SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件

用戶(hù)使用EZ掃描軟件可以在無(wú)需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱(chēng)。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過(guò)光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。