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2.5次元影像測(cè)量?jī)x與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢？

2.5次元測(cè)量?jī)x，是指在二次元的基礎(chǔ)上，以光學(xué)影像測(cè)量可測(cè)高度及深度，或者在鏡頭上加個(gè)測(cè)針，用光學(xué)鏡頭測(cè)量平面尺寸、用測(cè)針進(jìn)行接觸式測(cè)量可測(cè)深度，達(dá)到3維測(cè)量的效果，但此3維測(cè)量?jī)H是簡(jiǎn)易的3D測(cè)量，未能真正地實(shí)現(xiàn)3維全部空間尺寸的測(cè)量，因此被稱為2.5次元。

三維形貌測(cè)量?jī)x對(duì)于樣品表面特性研究案例

材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對(duì)于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析表面形貌對(duì)確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。

符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的NanoFocus測(cè)量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測(cè)量需求，滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化，這意味著在縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間的同時(shí)降低成本。

 三維表面形貌儀是一款光學(xué)表面形貌儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺(tái)階高度，距離，面積，角度和體積進(jìn)行多范圍測(cè)量?；诟盗⑷~變換的空間過(guò)濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項(xiàng)式配置、數(shù)據(jù)配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。采用白光軸向色差原理（性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀）對(duì)樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高分辨率的三維測(cè)量，測(cè)量范圍可從納米級(jí)粗糙度到毫米級(jí)的表面形貌。