日本理學(xué) 臺(tái)式熒光光譜儀WD-XRF光譜儀熒光
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日本理學(xué) 臺(tái)式熒光光譜儀WD-XRF光譜儀熒光
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日本理學(xué) 臺(tái)式熒光光譜儀WD-XRF光譜儀熒光

日本理學(xué)-臺(tái)式熒光光譜儀WD-XRF光譜儀熒光

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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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商品參數(shù)
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商品介紹
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產(chǎn)地 日本
是否進(jìn)口 進(jìn)口
產(chǎn)品名 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
產(chǎn)品編號(hào) 7331736
商品介紹

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來(lái)堅(jiān)持服務(wù)于國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營(yíng)銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長(zhǎng)\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見(jiàn)分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

 在儀德人的深耕細(xì)作下,客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運(yùn)輸、機(jī)械制造、商檢、質(zhì)檢、環(huán)境保護(hù)、食品藥品和教學(xué)科研等各行各業(yè)。

 目前,儀德科學(xué)儀器總部設(shè)在廣州,并在武漢、長(zhǎng)沙、南寧、廈門、深圳設(shè)有子公司和辦事處,業(yè)務(wù)范圍覆蓋華南區(qū)域。

X熒光光譜儀總而言之,建立適合用戶的標(biāo)準(zhǔn)樣品庫(kù),才能將X射線熒光光譜儀,雖然前期要做許多工作,例如收集樣品,樣品分析,標(biāo)準(zhǔn)樣品制備等工作,但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)樣品庫(kù),可以讓自己的檢測(cè)做到事半功倍的效果。






原子熒光光譜法具有原子吸收和原子發(fā)射兩種分析方法的優(yōu)勢(shì),并且克服了這2種方法在某些地方的不足。該法的優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高,目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法;譜線簡(jiǎn)單;在低濃度時(shí)校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬達(dá)3~5個(gè)數(shù)量級(jí),特別是用激光做激發(fā)光源時(shí)更佳,但其存在熒光淬滅效應(yīng),散射光干擾等問(wèn)題。

該方法主要用于金屬元素的測(cè)定,在環(huán)境科學(xué)、高純物質(zhì)、礦物、水質(zhì)監(jiān)控、生物制品和醫(yī)學(xué)分析等方面有廣泛的應(yīng)用。





原子吸收光譜法又稱原子吸收分光光度分析法,是基于氣態(tài)的基態(tài)原子外層電子對(duì)紫外光和可見(jiàn)光范圍的相對(duì)應(yīng)原子共振輻射線的吸收強(qiáng)度來(lái)定量被測(cè)元素含量為基礎(chǔ)的分析方法,是一種測(cè)量特定氣態(tài)原子對(duì)光輻射的吸收的方法。

其基本原理是從空心陰極燈或光源中發(fā)射出一束特定波長(zhǎng)的入射光,通過(guò)原子化器中待測(cè)元素的原子蒸汽時(shí),部分被吸收,透過(guò)的部分經(jīng)分光系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)即可測(cè)得該特征譜線被吸收的程度即吸光度,根據(jù)吸光度與該元素的原子濃度成線性關(guān)系,即可求出待測(cè)物的含量。


ZSX Primus III+具有場(chǎng)新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

高精度樣品定位

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對(duì)例如合金分析等需要高精度的應(yīng)用非常重要。ZSX Primus III+使用一個(gè)獨(dú)特的光學(xué)配置執(zhí)行高精度分析,用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導(dǎo)致的錯(cuò)誤。

SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件

用戶使用EZ掃描軟件可以在無(wú)需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,快速提供準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過(guò)光電子(輕、超輕元素)、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。





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