xrf熒光光譜儀WD-XRF光譜儀熒光 日本理學(xué) WD-XRF光譜儀品牌
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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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商品介紹
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產(chǎn)地 日本
是否進(jìn)口 進(jìn)口
品牌 理學(xué)
報價方式 按實際訂單報價為準(zhǔn)
產(chǎn)品名 波長色散X射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號 7314955
商品介紹

我國學(xué)者對不同時期WDXRF的進(jìn)展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看,依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上,但儀器面目全新。縱觀30年來的發(fā)展軌跡,可總結(jié)出如下特點 。

檢測技術(shù)的改進(jìn)提高了檢測速度。探測器技術(shù)及用于脈沖信號處理的電子學(xué)線路的迅速發(fā)展,在允許的死時間情況下,探測器接收光子的數(shù)量提高了1個數(shù)量級以上,如流氣正比計數(shù)管由100 kcps提高到 2500 kcps,在保證同樣分析精度情況下,元素的測定時間縮短了近10倍。如在20世紀(jì)80年代使用順序式 WDXRF譜儀測定硅酸鹽中10個常規(guī)元素需要約30 min,現(xiàn)在僅需3 min 左右。為了將計數(shù)率控制在探測器所允許的計數(shù)線性范圍內(nèi),譜儀在測定同一元素的不同含量時可依據(jù)計數(shù)率自動調(diào)節(jié)管電流,確保在條件下測量,在時間內(nèi)獲得分析工作者預(yù)定的分析結(jié)果準(zhǔn)確度。采用新的計數(shù)線路和多道分析器(MCA) 取代原有脈沖高度分析器,不僅可有效地扣除高次線干擾和晶體熒光干擾,且可同時處理不同幅度的脈沖信號,記錄脈沖信號較原來快了100倍。






當(dāng)樣品與聚焦點距離變化在-20μm~20 μm時,激發(fā)出的Fe、Cu、Zn、S的強(qiáng)度值。X射線熒光光譜分析測定金屬膜層的厚度,其測量值與實際值偏差不大。該儀器還可以獲取清晰的以不同材料為基底的指紋圖像,在玻璃基底上獲取的指紋紋理更清晰。微區(qū)X射線熒光光譜無損分析可得到類似切割板的多元素分布圖,是分析元素分布規(guī)律的一種較快的方法,能快速測出金屬膜層的厚度,高效率提取指紋。通過蘭坪盆地鉛鋅銅多金屬成礦區(qū)帶典型礦山地區(qū)1:50000地質(zhì)調(diào)查,采集云龍縣的山坡、林地、草地等的土壤樣品400多件,用波長色散-能量色散復(fù)合型X射線熒光光譜儀測量土壤重金屬含量。得到土壤中重金屬元素的平均值、中位值等,發(fā)現(xiàn)Zn和Pb元素含量的值點在同一位置點,在河庫旁干涸處草地。Cu、Pb、Zn、As、Sb、Cd元素含量值的采樣點均在水流附近,其中Cd元素的值點位于沘江附近,Cu、Pb、Zn、As、Sb、Cd等元素可能通過水流遷移。通過研究區(qū)不同類型土壤表層中重元素的含量和分布特征,為調(diào)查礦區(qū)及周邊水文地質(zhì)條件、礦山開采帶來的主要環(huán)境地質(zhì)問題提供依據(jù)。






日本理學(xué)波長色散X射線熒光硫(S)分析儀,根據(jù)ASTM D2622-10測量石油燃料中超低硫(ULS)

波長色散X射線熒光硫(S)分析儀

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計的理學(xué)Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀(WDXRF),擁有一個新的特征,可以同時測定硫的峰強(qiáng)和背景強(qiáng)度。測定并校正背景強(qiáng)度變化的能力使獲得一個更好的凈峰強(qiáng)度測定,從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。





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公司名稱 廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司
聯(lián)系賣家 丘先生 (QQ:402636448)
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網(wǎng)址 http://www.yidekeyi.com
地址 廣東省廣州市