美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計產(chǎn)品簡介：

美國ILT2400+XSD340B輻照計365nm波長高能量曝光測量

ILT2400輻照計以手持價格提供研究級質(zhì)量，采用可分離探頭設(shè)計，具有8個量級的動態(tài)測量范圍，測量速度可達100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向查看讀數(shù)或圖形曲線。XSD340B探頭響應(yīng)波段326-401 nm，校準于365nm波長，可測量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源輻照強度。ILT測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認證校準報告。

國際光學(xué)International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統(tǒng)用于326-401nm波段紫外線輻照度監(jiān)測，校準于365nm光阻劑作用光譜，精確地知道光致抗蝕劑曝光的程度，可測量高達30W/cm2 高能量強度，用于PCB印刷電路板光及半導(dǎo)體業(yè)。

美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計探頭參數(shù)：

ILT XSD系列光刻膠輻照度探頭

ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，響應(yīng)波段320-475 nm，校準于405nm波長

ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，響應(yīng)波段320-475 nm，校準于405nm波長

ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光譜范圍326-401 nm，中心波長365nm

ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高強度，測量光譜326-401 nm，校準于365nm

美國International Light Photoresist光阻劑曝光輻照度測光表探頭選型

 另有UV固化測量系統(tǒng)ILT800傳送帶式紫外線固化設(shè)備曝光量測量，范圍5e-3 ~ 40 W/cm2；LT2400+XSD340AT7 320-475 nm，校準于405nm中心波長，可測輻照強度范圍高達60 W/cm2。ILT紫外殺菌測光系統(tǒng)ILT2400+SED254/QT，手持式，低可見度環(huán)境，高功率紫外線強度應(yīng)用；ILT2400+SED185/NS185校準于185nm，臭氧/殺菌、光解廢氣、水處理行業(yè)。