長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司是一家專注于儀器工控設(shè)備、測(cè)試方案系統(tǒng)集成的高新技術(shù)科技企業(yè)。作為專業(yè)的儀器設(shè)備及測(cè)控集成ATE提供商，多年來堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新，結(jié)合引進(jìn)代理各大知名品牌的優(yōu)質(zhì)儀器設(shè)備，致力于提供更科學(xué)智能的軟硬件測(cè)試方案，廣泛應(yīng)用于科研行業(yè)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、化工、材料、環(huán)境、地質(zhì)、能源、藥物、刑事偵查和其他相關(guān)領(lǐng)域。如有需求請(qǐng)致電我們，我們將為你提供最佳的測(cè)試方案。

以上產(chǎn)品價(jià)格僅供參考，歡迎聯(lián)系艾克賽普獲取最終有效價(jià)格。

• 單機(jī)內(nèi)建高電壓耐壓測(cè)試與PD偵測(cè)功能
• 可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
• 高精度及高解析度電流錶 0.01uA ~ 300uA
• 局部放電(PD)偵測(cè)範(fàn)圍 1 pC ~ 2000 pC
• 高壓接觸檢查功能(HVCC)
• 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規(guī)測(cè)試要求
• 內(nèi)建IEC60747-5-5 測(cè)試方法
• 三段電壓測(cè)試功能
• PD測(cè)量結(jié)果數(shù)字化顯示(pC)
• PD 不良發(fā)生判定次數(shù)設(shè)定 (1~10)
• 繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
• USB畫面擷取功能
• 圖形化輔助編輯功能
• 標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232遠(yuǎn)端控制介面

Chroma 19501-K 局部放電測(cè)試器結(jié)合高電壓耐壓測(cè)試與局部放電(Partial Discharge)偵測(cè)功能於一單機(jī)，提供交流電壓輸出最大10kV，漏電流量測(cè)範(fàn)圍從0.01uA~300uA，局部放電偵測(cè)範(fàn)圍最小可偵測(cè)1pC放電量，針對(duì)高壓半導(dǎo)體元件及高絕緣材料測(cè)試應(yīng)用所開發(fā)。產(chǎn)品設(shè)計(jì)符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(guī)要求，同時(shí)內(nèi)建IEC 60747-5-5法規(guī)之測(cè)試方法在儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試需求，並提供給使用者一個(gè)便利操作介面.

在生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測(cè)試時(shí)，如果被測(cè)物未能正確及良好連接測(cè)試線，將導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失敗甚至是漏測(cè)的風(fēng)險(xiǎn)。因此，在測(cè)試前確保被測(cè)物與測(cè)試線良好連接是非常重要的。Chroma 獨(dú)特之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測(cè)試方法針對(duì)高絕緣能力之元件於高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，提升其測(cè)試可靠度與效率。