長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司是一家專注于儀器工控設(shè)備、測(cè)試方案系統(tǒng)集成的高新技術(shù)科技企業(yè)。作為專業(yè)的儀器設(shè)備及測(cè)控集成ATE提供商，多年來(lái)堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新，結(jié)合引進(jìn)代理各大知名品牌的優(yōu)質(zhì)儀器設(shè)備，致力于提供更科學(xué)智能的軟硬件測(cè)試方案，廣泛應(yīng)用于科研行業(yè)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、化工、材料、環(huán)境、地質(zhì)、能源、藥物、刑事偵查和其他相關(guān)領(lǐng)域。如有需求請(qǐng)致電我們，我們將為你提供最佳的測(cè)試方案。

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• 測(cè)試電壓: 1KV (dc)
• 充電電流: 最大 50mA
• 寬範(fàn)圍的漏電流量測(cè) (10pA ~ 20mA)
• 針對(duì)鋰電池潛在的內(nèi)部短路問(wèn)題，執(zhí)行局部放電 (Partial Discharge)/電氣閃絡(luò) (Flashover)之偵測(cè)(選購(gòu)項(xiàng)目 A112100):
  - 局部放電強(qiáng)度及次數(shù)的偵測(cè)與顯示
  - 在電壓/電流波形上，對(duì)局部放電做監(jiān)控 
  - 可設(shè)定局部放電之強(qiáng)度作為測(cè)試通關(guān)之條件
  - 可即時(shí)顯示和儲(chǔ)存發(fā)生局部放電時(shí)的電壓/電流波形 (選購(gòu)項(xiàng)目 A112101)
• 內(nèi)建快速且可靠的接觸檢查功能
• 依順序自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試程序:充電→保持→測(cè)量→放電
• 快速量測(cè) (20ms/device)
• 480x272像素全彩顯示以及方便的觸控式螢?zāi)?/li>
• 具有標(biāo)準(zhǔn)Handler 介面以及USB、RS-232、Ethernet 等通訊介面

Chroma 11210電池芯絕緣測(cè)試儀為專門量測(cè)鋰電池(乾電芯)之漏電流(LC)或絕緣電阻(IR)並可進(jìn)行絕緣品質(zhì)檢測(cè)所新推出之儀器。除鋰電池乾電芯以外，亦可量測(cè)各式電容產(chǎn)品和絕緣材料，除標(biāo)準(zhǔn)的LC/IR量測(cè)以外，11210尚具有一特殊功能: 於高壓量測(cè)過(guò)程中，可針對(duì)絕緣體內(nèi)微小的局部放電 (Partial Discharge, PD) 或電氣閃絡(luò)(Flashover) 進(jìn)行偵測(cè)與分析 (以下簡(jiǎn)稱"PD偵測(cè)功能")，此功能可確保鋰電池乾電芯在電解液填充前的品質(zhì)，在生產(chǎn)線上，能將具有潛在瑕疵的產(chǎn)品提前篩出，避免瑕疵產(chǎn)品進(jìn)入下一生產(chǎn)階段或甚至進(jìn)入終端市場(chǎng)，相對(duì)於傳統(tǒng)的絕緣測(cè)試，11210在絕緣材料品質(zhì)檢測(cè)這個(gè)領(lǐng)域，領(lǐng)先進(jìn)入了一個(gè)新的境界。

Chroma 11210擁有高水平的充電電流和快速的量測(cè)電路，使得整體測(cè)試速度得以大幅提升，對(duì)一般電容性待測(cè)物所做的絕緣測(cè)試均可細(xì)分為四個(gè)程序: 充電→保持→測(cè)量→放電，11210可高速而自動(dòng)的依序執(zhí)行這些程序，最快可以在20ms內(nèi)執(zhí)行完一個(gè)完整測(cè)試。亦即，如生產(chǎn)線需要執(zhí)行高速測(cè)試，11210可以達(dá)到每秒50 pcs的超高速度，對(duì)於生產(chǎn)線的效率提升非常顯著！

為了達(dá)到精準(zhǔn)的LC/IR量測(cè)，Chroma 11210在漏電流量測(cè)上可細(xì)分為7個(gè)檔位，從最小10pA到最大20mA均可量測(cè)。另外，Auto-range之功能可自動(dòng)切換至最佳檔位執(zhí)行量測(cè)，省卻使用者的不便並確保量測(cè)精準(zhǔn)度。

在PD偵測(cè)的方面，由於Chroma 11210使用特殊電路設(shè)計(jì)，在執(zhí)行此PD檢測(cè)功能並不會(huì)增加任何額外的測(cè)試時(shí)間，LC/IR的量測(cè)與PD偵測(cè)可在同一時(shí)間內(nèi)完成；同時(shí)，LC/IR量測(cè)與PD偵測(cè)的結(jié)果可連同報(bào)表同時(shí)產(chǎn)出並在螢?zāi)簧铣尸F(xiàn)。於生產(chǎn)線上，仍可以20ms/min.的高速同時(shí)執(zhí)行LC/IR量測(cè)和PD檢測(cè)。

對(duì)於任何一項(xiàng)絕緣測(cè)試而言，接觸檢查對(duì)於測(cè)試的可靠性都有決定性的影響，在整個(gè)量測(cè)過(guò)程中，"沒(méi)有接觸"也很有可能被判定為良品，這樣的誤判會(huì)讓不良品進(jìn)入市場(chǎng)，如果待測(cè)物的絕緣電阻非常高，這種誤判情形會(huì)更明顯；所以一般而言，絕緣測(cè)試在測(cè)試過(guò)程中一定要進(jìn)行接觸檢查，Chroma 11210架構(gòu)使用高階電路，可在5ms內(nèi)執(zhí)行一次完整的接觸檢查，並可選擇量測(cè)前執(zhí)行、量測(cè)後執(zhí)行或量測(cè)前後皆執(zhí)行。