德國(guó)賽普SEQUIP粒度測(cè)試儀維修參數(shù)不準(zhǔn)確維修重點(diǎn)推薦常州凌科自動(dòng)化科技有限公司位于江蘇常州武進(jìn)經(jīng)開區(qū)，是目前江蘇省內(nèi)最具規(guī)模的一家維修服務(wù)公司，因我們過(guò)硬的技術(shù)和周到的服務(wù)贏得廣大客戶和業(yè)內(nèi)同行的優(yōu)質(zhì)口碑！

  應(yīng)用行業(yè)微納Winner603微納油液顆粒計(jì)數(shù)器可應(yīng)用于航天，電力，石油，化工，交通，港口，冶金，機(jī)械，汽車制造，制冷，電子，半導(dǎo)體，工程機(jī)械，液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域?qū)σ簤河停瑵?rùn)滑油，變壓器油(絕緣油)，汽輪機(jī)油 因此，遮光率又稱光學(xué)濃度，具體計(jì)算方法是用激光透過(guò)純凈介質(zhì)后探測(cè)器中心點(diǎn)的光強(qiáng)I0與加入樣品后探測(cè)器中心點(diǎn)的光強(qiáng)Ii的差除以光強(qiáng)I0，即遮光率=(I0—Ii)/I0x，通道激光粒度儀佳遮光率在10%--15%之間

德國(guó)賽普SEQUIP粒度測(cè)試儀維修參數(shù)不準(zhǔn)確維修重點(diǎn)推薦對(duì)中是指激光束的焦點(diǎn)通過(guò)光電探測(cè)陣列的圓心，激光粒度儀在測(cè)試前首先要保證激光束的焦點(diǎn)通過(guò)光電探測(cè)陣列的圓心，并且在測(cè)試過(guò)程中不偏移，才能得到正確的結(jié)果。目前粒度 問題的提出微納顆粒圖像分析技術(shù)是一種不僅可以檢測(cè)微納顆粒大小也可以檢測(cè)微納顆粒形狀對(duì)*方法,但是由于此種技術(shù)有幾個(gè)致命的缺點(diǎn)限制了它的進(jìn)一步發(fā)展:1.微納顆粒處于靜態(tài),非球形微納顆粒的取向會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成偏離,2.樣品制備困難儀采用的都是兩維對(duì)中系統(tǒng)，一般采用步進(jìn)電機(jī)通過(guò)軸套來(lái)帶動(dòng)移動(dòng)尺來(lái)提供動(dòng)力，步進(jìn)電機(jī)和軸套、軸套和移動(dòng)尺之間都是通過(guò)頂絲連接，導(dǎo)致三個(gè)器件的中心不在一條直線上，且移動(dòng)尺正轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)的之間的空轉(zhuǎn)間隙較大，導(dǎo)致對(duì)中系統(tǒng)不穩(wěn)定，不能快速而準(zhǔn)確地完成對(duì)中，現(xiàn)有對(duì)中系統(tǒng)都沒有限位系統(tǒng)，如果光路本身出現(xiàn)問題，對(duì)中系統(tǒng)就會(huì)出現(xiàn)誤判斷，一直朝著一個(gè)方向運(yùn)動(dòng)損壞機(jī)械傳動(dòng)組件。針對(duì)目前現(xiàn)有激光粒度儀的技術(shù)的不足，微納公司提供一種設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單緊湊、使用方便的三維自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)。 設(shè)系統(tǒng)周期是τ，當(dāng)T2=τ時(shí)，q=x(t+τ)=sin(t+τ)=sint，使微納互信息I(T2)又取極大值，則兩個(gè)極大點(diǎn)之差T2-T1=τ即為系統(tǒng)的周期，所以只要找出微納互信息I的兩個(gè)相鄰極大值所對(duì)應(yīng)的極大點(diǎn)T1和T2為了提高對(duì)中系統(tǒng)的度，減小空轉(zhuǎn)長(zhǎng)度，采用帶絲杠的步進(jìn)電機(jī)作為動(dòng)力部件。為了提高對(duì)中系統(tǒng)的穩(wěn)定性，采用消隙的滑軌作為機(jī)械傳動(dòng)組件的核心部件。為提高對(duì)中速度和防止出現(xiàn)誤操作，采用光電傳感器與限位片結(jié)合的方式來(lái)限位。 其中理論知識(shí)包括顆粒學(xué)，物理學(xué)，化學(xué)，材料學(xué)，力學(xué)，機(jī)械學(xué)，電子學(xué)和計(jì)算機(jī)學(xué)等諸多學(xué)科，實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)則需要逐漸積累，在工作和學(xué)習(xí)中逐步提高，因此粒度檢測(cè)是一項(xiàng)專業(yè)性和實(shí)踐性都很強(qiáng)的工作，激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便

因此顆粒測(cè)量下限的確定，實(shí)質(zhì)上決定于Mie散射理論能譜的研究，本文以Mie理論為依據(jù)，通過(guò)理論分析和進(jìn)行計(jì)算機(jī)模擬，確定測(cè)量下限的參考范圍，1Mie散射基本公式Mie理論是對(duì)處于均勻介質(zhì)中的各向均勻同性的單個(gè)介質(zhì)球在單色平行光照射下的Maxwell方程邊界條件的嚴(yán)格數(shù)學(xué)解 公司級(jí)質(zhì)檢中心與印刷廠之間有爭(zhēng)議，那么如何測(cè)準(zhǔn)細(xì)度呢，換言之，影響細(xì)度檢測(cè)結(jié)果的主要因素是什么呢，一，刮板細(xì)度計(jì)的影響刮板細(xì)度計(jì)可到計(jì)量技術(shù)研究院(所)進(jìn)行檢定，公司級(jí)質(zhì)量檢測(cè)中心，生產(chǎn)中控檢測(cè)以及印刷廠都有幾塊刮板細(xì)度計(jì) 比對(duì)組織單位召開比對(duì)總結(jié)會(huì),7，比對(duì)數(shù)據(jù)向參比單位和社會(huì)公開發(fā)布,(5)比對(duì)周期，量值比對(duì)工作一般2--3年組織一次，米氏散射理論經(jīng)麥克斯韋電磁理論嚴(yán)格推導(dǎo)，是描述表面光滑的均勻球體對(duì)光的散射理論，考慮了散射體(顆粒)的光學(xué)特性(折射率和吸收系數(shù))

德國(guó)賽普SEQUIP粒度測(cè)試儀維修參數(shù)不準(zhǔn)確維修重點(diǎn)推薦與儀器重復(fù)性測(cè)量不同的是，儀器相對(duì)誤差的測(cè)試要采用至少三種樣品以上的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行測(cè)試，每種樣品獨(dú)立測(cè)量3次并分別求其平均值，獲得多個(gè)粒度測(cè)量的平均值，分別計(jì)算儀器測(cè)量平均值與粒度表標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)值間的相對(duì)誤差。 第二版,高等教育出版社，P135-200[3]梁昆淼,數(shù)學(xué)物理方法,第三版，高等教育出版社[4]王乃寧等,顆粒粒徑的光學(xué)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用*版原子能出版社2000.6P128-167[5]王少清任中京張希明何芳江海鷹,mie散射系數(shù)的新算法,激光雜志18(3)1997[6]任中京當(dāng)代激光粒度分析技術(shù)的進(jìn)