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深圳市萬聯(lián)芯電子有限公司
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店齡5年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 廣東省深圳市
深圳市萬聯(lián)芯電子有限公司
主營產(chǎn)品: 血氧儀 測(cè)溫儀 額溫
萦萫萩萬萫萭萬营营萭营
始興血氧儀的作用廠家萬聯(lián)芯
價(jià)格
訂貨量(臺(tái))
¥8.00
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店鋪主推品 熱銷潛力款
聯(lián)系人 郭先生
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發(fā)貨地 廣東省深圳市
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深圳市萬聯(lián)芯電子有限公司
店齡5年 企業(yè)認(rèn)證
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郭先生
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經(jīng)營模式
生產(chǎn)廠家
所在地區(qū)
廣東省深圳市
主營產(chǎn)品
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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
品牌 萬聯(lián)芯
工作溫度 23度
類型 醫(yī)療輔助
顏色 藍(lán)
可售賣地 全國
商品介紹
始興血氧儀的作用廠家萬聯(lián)芯
深圳市萬聯(lián)芯電子有限公司是一家專業(yè)研發(fā)和生產(chǎn)NTC熱敏電阻、精密溫度傳感器和線束的企業(yè)。公司在深圳、江蘇設(shè)有工廠,在深圳設(shè)有獨(dú)立的NTC敏感元件研究所。公司開發(fā)的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于新能源汽車(包括電動(dòng)力汽車、混合動(dòng)力汽車、燃料電池汽車)、網(wǎng)絡(luò)能源(包括不間斷電源、電腦電池、手機(jī)電池)、電子溫度探針、電動(dòng)工具和各類現(xiàn)代家庭廚房生活電器等領(lǐng)域。
我們一直以技術(shù)求發(fā)展,以質(zhì)量求生存,以市場(chǎng)為導(dǎo)向,以服務(wù)為宗旨,一如既往為用戶提供、多元化、寬層次的業(yè)內(nèi)最完善的服務(wù)解決方案。
服務(wù)至上,向客戶提供的服務(wù)和的產(chǎn)品是我們的目標(biāo)。
我們將不斷努力,為客戶提供的產(chǎn)品,的服務(wù)。
客戶滿意是我們永遠(yuǎn)的追求。
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝后測(cè)試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測(cè)試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對(duì)Wafer劃片槽(ScribeLine)測(cè)試鍵(TestKey)的測(cè)試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù),測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容,測(cè)完某條TestKey后,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測(cè)試完成。
深圳市萬聯(lián)芯電子有限公司是一家專業(yè)研發(fā)和生產(chǎn)NTC熱敏電阻、精密溫度傳感器和線束的企業(yè)。公司在深圳、江蘇設(shè)有工廠,在深圳設(shè)有獨(dú)立的NTC敏感元件研究所。公司開發(fā)的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于新能源汽車(包括電動(dòng)力汽車、混合動(dòng)力汽車、燃料電池汽車)、網(wǎng)絡(luò)能源(包括不間斷電源、電腦電池、手機(jī)電池)、電子溫度探針、電動(dòng)工具和各類現(xiàn)代家庭廚房生活電器等領(lǐng)域。
我們一直以技術(shù)求發(fā)展,以質(zhì)量求生存,以市場(chǎng)為導(dǎo)向,以服務(wù)為宗旨,一如既往為用戶提供、多元化、寬層次的業(yè)內(nèi)最完善的服務(wù)解決方案。
服務(wù)至上,向客戶提供的服務(wù)和的產(chǎn)品是我們的目標(biāo)。
我們將不斷努力,為客戶提供的產(chǎn)品,的服務(wù)。
客戶滿意是我們永遠(yuǎn)的追求。
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝后測(cè)試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測(cè)試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對(duì)Wafer劃片槽(ScribeLine)測(cè)試鍵(TestKey)的測(cè)試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù),測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容,測(cè)完某條TestKey后,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測(cè)試完成。
聯(lián)系方式
公司名稱 深圳市萬聯(lián)芯電子有限公司
聯(lián)系賣家 郭先生 (QQ:1060581334)
電話 萦萫萩萬萫萭萬营营萭营
手機(jī) 萦萫萩萬萫萭萬营营萭营
網(wǎng)址 http://www.wanlianxin.net
地址 廣東省深圳市