麥克micromeritics粒度分析檢測儀維修測量過程中斷維修放心省心常州凌科自動化科技有限公司位于江蘇常州武進經(jīng)開區(qū)，是目前江蘇省內(nèi)最具規(guī)模的一家維修服務(wù)公司，因我們過硬的技術(shù)和周到的服務(wù)贏得廣大客戶和業(yè)內(nèi)同行的優(yōu)質(zhì)口碑！

  可測液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少，缺點:進樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑如何檢測，好的途徑是全范圍直接檢測，這樣才能保證本底扣除的一致性，不同方法的混合測試，再用計算機擬合成一張圖譜，肯定帶來誤差 19989王乃寧，顆粒粒徑的光學(xué)測量技術(shù)及應(yīng)用[M]，北京:原子能出版社，2000.18910楊曄,張鎮(zhèn)西,蔣大宗，關(guān)于大顆粒Mie散射與Fraunhofer衍射問題的分析比較[J]，激光技術(shù),1998,22(1):1811張福根

麥克micromeritics粒度分析檢測儀維修測量過程中斷維修放心省心對中是指激光束的焦點通過光電探測陣列的圓心，激光粒度儀在測試前首先要保證激光束的焦點通過光電探測陣列的圓心，并且在測試過程中不偏移，才能得到正確的結(jié)果。目前粒度 偏離其原來的傳播方向彎入障礙物的幾何影區(qū)內(nèi)，并在障礙物后的觀察屏上呈現(xiàn)光強分布的不均勻現(xiàn)象，光源和觀察屏距離衍射物都相當(dāng)于無限遠(yuǎn)時的衍射即為Fraunhofer衍射，其衍射場可在透鏡的后焦面上觀察到，設(shè)透鏡焦距為f儀采用的都是兩維對中系統(tǒng)，一般采用步進電機通過軸套來帶動移動尺來提供動力，步進電機和軸套、軸套和移動尺之間都是通過頂絲連接，導(dǎo)致三個器件的中心不在一條直線上，且移動尺正轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)的之間的空轉(zhuǎn)間隙較大，導(dǎo)致對中系統(tǒng)不穩(wěn)定，不能快速而準(zhǔn)確地完成對中，現(xiàn)有對中系統(tǒng)都沒有限位系統(tǒng)，如果光路本身出現(xiàn)問題，對中系統(tǒng)就會出現(xiàn)誤判斷，一直朝著一個方向運動損壞機械傳動組件。針對目前現(xiàn)有激光粒度儀的技術(shù)的不足，微納公司提供一種設(shè)計合理、結(jié)構(gòu)簡單緊湊、使用方便的三維自動對中系統(tǒng)。 拆卸，清洗是否方便:粒度儀分為主機和分散器兩部分，而樣品流動池總是需要定期清洗的，清洗間隔視樣品性質(zhì)而定，將主機和分散器合二為一的儀器往往將樣品池深置于儀器內(nèi)部，取出和拆卸均很繁瑣，且極易碰壞光路系統(tǒng)為了提高對中系統(tǒng)的度，減小空轉(zhuǎn)長度，采用帶絲杠的步進電機作為動力部件。為了提高對中系統(tǒng)的穩(wěn)定性，采用消隙的滑軌作為機械傳動組件的核心部件。為提高對中速度和防止出現(xiàn)誤操作，采用光電傳感器與限位片結(jié)合的方式來限位。 受下游房地產(chǎn)企業(yè)低迷的影響，今年水泥市場出現(xiàn)產(chǎn)能嚴(yán)重過剩的現(xiàn)象，針對這一情況，水泥行業(yè)自發(fā)的進行了大規(guī)模的產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)調(diào)整，涉及技術(shù)結(jié)構(gòu)，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)等各個方面，在整體市場疲軟的大環(huán)境下，越來越多的企業(yè)對水泥產(chǎn)品質(zhì)量提出了較高的要求

也是國內(nèi)首款采用動態(tài)光散射原理的納米粒度儀，其測量原理建立在分散在液體顆粒的運動基礎(chǔ)之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢，它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司自主研制的高速數(shù)字相關(guān)器作為核心器件 降低生產(chǎn)成本，并且水泥磨的粉磨效率也與入磨物料的粒度密切相關(guān)，提高水泥磨的粉磨效率，進而提高水泥磨的臺時產(chǎn)量，也是水泥生產(chǎn)企業(yè)密切關(guān)注的問題，水泥顆粒級配是影響水泥強度的直接因素，水泥中粒度在1μm以下的顆粒在攪拌中會完全水化 好的反演算法分辨力高，SOP是英文StandardOperationProgram的縮寫，漢儀是“標(biāo)準(zhǔn)化操作程序”，在實現(xiàn)自動控制的儀器中一般都配有SOP，測試固定種類的樣品時

麥克micromeritics粒度分析檢測儀維修測量過程中斷維修放心省心與儀器重復(fù)性測量不同的是，儀器相對誤差的測試要采用至少三種樣品以上的國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進行測試，每種樣品獨立測量3次并分別求其平均值，獲得多個粒度測量的平均值，分別計算儀器測量平均值與粒度表標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)值間的相對誤差。 此時，Mie散射的光強分布圖像的形狀可提供里較多的粒度信息，可以用來判斷顆粒粒徑，(2)d取50-200nm時，Mie散射的光強分布圖像與Rayleigh散射的光強分布圖像差異很小，據(jù)此提取粒度信息非常困難