測量挑戰(zhàn):

測量挑戰(zhàn) 是德科技網(wǎng)絡(luò)分析儀可以表征和測試有源組件，例如放大器、混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器。它 們可輕松進(jìn)行放大器的常規(guī)參數(shù)測量，例如增益、增益和相位壓縮、隔離度、回波損耗 和群時延。諧波失真常用于了解放大器的非線性特性，接收機(jī)有時需要工作在與激勵源 不同的頻率上。由于頻率轉(zhuǎn)換器件（例如混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器）的輸入頻率和輸出頻率 不同，因此，精確地對頻率變換器件進(jìn)行測量具有很大的挑戰(zhàn)性。用于測量這些器件的 網(wǎng)絡(luò)分析儀必須具有頻偏模式（FOM），才能勝任測量這種輸入頻率和輸出頻率不相同 的器件的任務(wù)。有時，可能還需要使用其他儀器和信號調(diào)節(jié)器件來進(jìn)行雙音測量、大功 率器件測量、噪聲系數(shù)測量、ACP 和 EVM 等其他類型的測量。因此，測量系統(tǒng)變得越 來越復(fù)雜；或者在完成一個放大器的測量時，將會需要多個不同的測量工位。 是德科技解決方案 對于有源元器件的矢量網(wǎng)絡(luò)分析，是德科技提供了廣泛、靈活和價格經(jīng)濟(jì)的測試解決方 案。Keysight VNA 專為線性和非線性表征而設(shè)計，具有極高的精度。除了高性能優(yōu)勢以 外，還有多款測量應(yīng)用軟件可以幫助簡化設(shè)置、縮短測試時間，提高測量精度。

主要特性: 

 – 放大器增益、匹配和隔離：S 參數(shù)測量 – AM-AM 和 AM-PM 轉(zhuǎn)化：功率掃描， 信號源和接收機(jī)校準(zhǔn) – 大功率/脈沖可配置性：可配置的測試 座、大輸出功率、信號源和接收機(jī)衰 減器、內(nèi)置脈沖發(fā)生器、外部脈沖發(fā) 生器控制、內(nèi)置脈沖調(diào)制器 – 頻率轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換增益/損耗：FOM、 信號源和接收機(jī)校準(zhǔn)、標(biāo)量混頻器 校準(zhǔn) – 頻率轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換相位/群時延：FOM、 幅度和相位校準(zhǔn)、矢量混頻器校準(zhǔn) – LO 驅(qū)動/測量：第二個內(nèi)部信號源、 外部射頻源控制、三端口校準(zhǔn)和測 量、LO 功率校準(zhǔn) – 混頻器拓?fù)洌簰呙枭漕l、掃描/固定 LO （固定 IF/掃描 IF）、雙級變頻器、配 有內(nèi)置 LO 的變頻器 – 精確的信號源輸出功率和絕對功率測 量：信號源和接收機(jī)校準(zhǔn)、功率傳感 器失配校正、接收機(jī)電平調(diào)節(jié) – 諧波失真：FOM、信號源和接收機(jī)校 準(zhǔn)、較低的信號源諧波、接收機(jī)衰減器 – 互調(diào)失真（IMD）：FOM、第二個內(nèi)部 信號源、外部信號源控制、內(nèi)置信號 合成網(wǎng)絡(luò)、掃描 IMD – 噪聲系數(shù)測量 – Hot-S22 測量：FOM、第二個內(nèi)置信 號源、內(nèi)置信號合成網(wǎng)絡(luò) – 功率附加效率：直流輸入和/或直流電 表控制 – 直流偏置：內(nèi)部直流偏置源/直流源控 制/內(nèi)置直流偏置電路 – 有源熱參數(shù)消除了系統(tǒng)與系統(tǒng)之間的 相關(guān)性問題 – 非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析（NVNA）：波形 分析、X 參數(shù)