金屬分析儀介紹

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貴金屬分析儀是一種計量分析儀器，具有結構簡單、價格相對較低、容易操作和維修方便的優(yōu)點。它通過測定特征光譜中的能量和強度，得到樣品的成分和含量數(shù)據(jù)。它內置多條工作曲線，滿足用戶的日常應用。不僅可以進行貴金屬檢測，還可以對部分寶石進行辨別，例如：鉆石和鋯石的區(qū)分、人工處理綠松石和天然綠松石的區(qū)分、海水珍珠和淡水珍珠的區(qū)分等等。如需建立新的分析曲線，工程師會遠程協(xié)助用戶建立，省去用戶建立曲線的繁瑣步驟。它可以用打印機輸出結果，測量穩(wěn)定、數(shù)據(jù)真實，其產品完全滿足國家相關標準規(guī)定，可以滿足企業(yè)產品質量監(jiān)督需要。

金銀檢測儀的獨特優(yōu)勢

： ppm級精度，可靠的檢測數(shù)據(jù)

便捷：電腦自動選點，準確簡單，無需手動選點，操作流暢便捷

快速：3秒內可對樣品定性識別，60秒內可得出測試結果

直觀：高清晰圖形即時顯示，檢測結果直觀明了

：加裝裝置，主動保護操作人員

經濟：價格便宜，測試過程基本不需要任何耗材

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光譜儀簡介

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X射線熒光光譜分析儀分為能量色散型X射線熒光光譜分析儀（EDXRF）和波長色散型X射線熒光光譜分析儀（WDXRF）。波長色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的波長特性，對X射線進行分光，獲取各個光通道的計數(shù)，從而得到樣品的成分及含量。該設備優(yōu)勢是準確度高，但是設備造價高，維護成本高，樣品需要前處理，操作相對復雜。能量色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的粒子特性，獲取特征光譜的能量和計數(shù)，從而得到樣品的成分及含量。就能量色散型儀器而言，根據(jù)選用探測器的不同，X射線熒光分析儀可分為半導體探測器和正比計數(shù)管兩種主要類型。該設備優(yōu)勢是造價低，維護成本低，樣品不需要前處理可直接測量，操作簡單，但精度低于波長色散型X射線熒光光譜分析儀。正是基于以上原理，貴金屬分析儀能夠快速檢測出貴金屬及其雜質的成分及含量。