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X射線衍射儀

中諾新材分析測(cè)試設(shè)備——X射線衍射儀                                              

  Rigaku 靶材晶向比例分析系統(tǒng)（XRD）可直接用于檢測(cè)直徑在500mm以下的固體金屬材料的內(nèi)部織構(gòu)。X射線是一種波長(zhǎng)（0.06-20nm）很短的電磁波，當(dāng)X 射線照射晶態(tài)結(jié)構(gòu)時(shí)，將受到晶體點(diǎn)陣排列的不同原子或分子所衍射。當(dāng)用波長(zhǎng)為λ的單色X射線照射到兩個(gè)晶面間距為d的晶面時(shí)會(huì)發(fā)生布拉格定律衍射，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)）θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。中諾新材分析測(cè)試設(shè)備——晶相檢測(cè)分析儀金相顯微鏡可以對(duì)Al、Ti、Ta、Cu、W、Mo、Co、Ni等金屬及其合金材料進(jìn)行專業(yè)的金相分析。應(yīng)用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象。特征X射線作用于安裝在測(cè)角儀上的晶體后產(chǎn)生衍射點(diǎn)，通過(guò)檢測(cè)器記錄衍射點(diǎn)的強(qiáng)度數(shù)據(jù)。通過(guò)計(jì)算機(jī)控制完成衍射的自動(dòng)尋峰、測(cè)定晶胞參數(shù)、收集衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)消光規(guī)律，確定空間群等。進(jìn)而計(jì)算晶體結(jié)構(gòu)。

分析檢測(cè)設(shè)備5

中諾新材分析檢測(cè)設(shè)備——ICP-AES 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀                      

  icp-aes分析儀由于采用了計(jì)算機(jī)技術(shù)，儀器的智能化、屏幕顯示的圖和文及數(shù)據(jù)的采集、處理等都達(dá)到了目前國(guó)內(nèi)先進(jìn)水平，是諸多行業(yè)理想的分析儀器。具有分析速度快，測(cè)試范圍廣、基體效應(yīng)小、分析動(dòng)態(tài)范圍?。üぷ髑€的直線范圍可達(dá)4-5個(gè)數(shù)量級(jí)）等優(yōu)點(diǎn)。中諾新材作為一家技術(shù)科技先導(dǎo)型企業(yè)，所有員工均受過(guò)專業(yè)技能培訓(xùn)和職業(yè)素質(zhì)教育，專業(yè)技術(shù)人員的比例超過(guò)50%，研發(fā)和技術(shù)力量非常雄厚，為公司的長(zhǎng)久發(fā)展奠定了堅(jiān)實(shí)的良好基礎(chǔ)。主要用于微量元素的分析，可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬，共72種。廣泛地應(yīng)用于質(zhì)量控制的元素分析，超微量元素的檢測(cè)