貴金屬靶材尺寸

金、銀、鉑、鈀濺射靶材通過(guò)熔煉提純、澆鑄成錠，鍛造軋制和精密機(jī)加工制造而成。純度均可達(dá)到99.99%，主要應(yīng)用于電子半導(dǎo)體、太陽(yáng)能光伏、平面顯示、磁學(xué)等行業(yè)。

釕、銠、銥濺射靶材采用高純金屬粉末為原料，通過(guò)粉末冶金鑄錠，并精密機(jī)加工成靶，產(chǎn)品純度可達(dá)99.95%。主要應(yīng)用于電子半導(dǎo)體、磁學(xué)等行業(yè)。

常規(guī)靶材有：

高純金 靶材 99.99%φ50.8mm, φ60mm, φ101.6mm

高純銀 靶材 99.99%φ50.8mm, φ60mm, φ101.6mm

高純鉑 靶材 99.99%φ50.8mm, φ60mm, φ101.6mm

高純鈀 靶材 99.99%φ50.8mm, φ60mm,  φ101.6mm

高純釕 靶材 99.95%φ50.8mm, φ60mm, φ101.6mm

高純銠 靶材 99.95%φ50.8mm, φ60mm,  φ101.6mm

高純銥 靶材 99.95%φ50.8mm, φ60mm,  φ101.6mm

常規(guī)厚度1-6mm

可定制加工的圓靶方靶，可提供靶材綁定服務(wù)。

X射線衍射儀

中諾新材分析測(cè)試設(shè)備——X射線衍射儀                                              

  Rigaku 靶材晶向比例分析系統(tǒng)（XRD）可直接用于檢測(cè)直徑在500mm以下的固體金屬材料的內(nèi)部織構(gòu)。X射線是一種波長(zhǎng)（0.06-20nm）很短的電磁波，當(dāng)X 射線照射晶態(tài)結(jié)構(gòu)時(shí)，將受到晶體點(diǎn)陣排列的不同原子或分子所衍射。當(dāng)用波長(zhǎng)為λ的單色X射線照射到兩個(gè)晶面間距為d的晶面時(shí)會(huì)發(fā)生布拉格定律衍射，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)）θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。應(yīng)用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象。中諾新材可根據(jù)客戶不同爐體坩堝對(duì)投料數(shù)量的要求，定制加工各種高純度，不同規(guī)格的金屬原料。特征X射線作用于安裝在測(cè)角儀上的晶體后產(chǎn)生衍射點(diǎn)，通過(guò)檢測(cè)器記錄衍射點(diǎn)的強(qiáng)度數(shù)據(jù)。通過(guò)計(jì)算機(jī)控制完成衍射的自動(dòng)尋峰、測(cè)定晶胞參數(shù)、收集衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)消光規(guī)律，確定空間群等。進(jìn)而計(jì)算晶體結(jié)構(gòu)。

  金相顯微鏡可以對(duì)Al、Ti、Ta、Cu、W、Mo、Co、Ni等金屬及其合金材料進(jìn)行專業(yè)的金相分析。碲化銻碲化鋅碲化鍺多元化合物: 銅銦硒銅鋅錫硫鍺銻碲純度：99。該儀器的物境倍數(shù)：5X 10X 20X 40X，目鏡倍數(shù)：10X，可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件，采用TCI金相圖像分析系統(tǒng)V2.0，可對(duì)材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進(jìn)行分析研究和表征，包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，主要反映和表征構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯(cuò)）的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間