測試功能

V70

V71

V73

V74

V75

V79

AC耐壓

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直流高壓鍋

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紅外

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接地鍵

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低電阻

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16通道高壓掃描儀

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ACW測試步驟

電壓

50或60Hz +/- 0.05％時10至5000Vrms（1V分辨率）正弦波
V75型號：
在所有允許的負載條件下，50或60Hz +/- 0.05％時10至2000Vrms（1V分辨率）正弦波

 加載

20mArms（電阻為10mArms，持續(xù)時間超過10秒），低于1000V時每V降低20μA，高于4000V時每V降低10μA

泄漏精度

直流耦合，真有效值，10Hz-4KHz 3dB帶寬
DUT隔離（<1.1mA）：1％+ 5μA（1μA分辨率）DUT隔離（> 1.1mA）：1％+ 30μA（10μA分辨率）
DUT接地：1％+ 30μA + （每KV 4μA）（10μA分辨率）

ARC限制

禁用或高達30mA（1mA分辨率）

坡道

0至99.9秒（0.02秒分辨率）

住

0.1至9999秒（0.1秒分辨率）或用戶終止

關(guān)掉

高壓端子電流過大：1毫秒內(nèi)
用戶停止：2 毫秒內(nèi)
互鎖打開（如果啟用）：2毫秒內(nèi)
負載擊穿（負載電流突然不受控制地增加）：150μs內(nèi)
泄漏極限（如果啟用）：100毫秒內(nèi)
ARC極限（如果啟用）： 1ms以內(nèi)

用戶設(shè)置

電壓電平
頻率
DUT隔離/接地
值 泄漏限制（可以被禁用）
。泄漏極限（可以禁用）
ARC極限（可以禁用）
斜坡周期
停留時間
斜坡下降快速/作為
故障時斜坡停止/繼續(xù)的順序

DCW測試步驟

電壓

20至5000VDC（1V分辨率）
V75型：
在所有允許的負載條件下20至3000VDC（1V分辨率）1％+ 5V精度

 加載

2000-3000V：7mA（高于2000V時每伏降低4μA），<0.1μF電容
3000-4000V：3mA（高于3000V時每伏降低1μA），> 0.05V電容> 4000V：2mA（高于每伏0.5μA降低） 4000V），<0.03μF電容

泄漏精度

DUT隔離電阻（<200μA）：1％+ 1μA（0.1μA分辨率）
DUT隔離電阻（0.2-1.5mA）：1％+ 2μA（1μA分辨率）
否則：1％+ 20μA（10μA分辨率）

ARC限制

禁用或高達30mA（1mA分辨率）

坡道

電阻DUT：0.1至99.9sec（0.02sec分辨率）
電容DUT：1.0至99.9sec（0.02sec分辨率）

住

0.1至9999秒（0.02秒分辨率）或用戶終止

減速

0秒或按斜坡定義

內(nèi)部放電

50KΩ放電負載和0.03μF電容能量

關(guān)掉

高壓端子電流過大：1毫秒內(nèi)
用戶停止：2 毫秒內(nèi)
互鎖打開（如果啟用）：2毫秒內(nèi)
負載擊穿（負載電流突然無控制地增加）：150μs內(nèi)

泄漏限制（如果啟用）

在100毫秒內(nèi)
ARC限制（如果啟用）：在1毫秒內(nèi)

用戶設(shè)置

電壓電平
DUT隔離/接地
DUT電阻/電容
值 泄漏限制（可以被禁用）
。泄漏極限（可以禁用）
ARC極限（可以禁用）
斜坡周期
停留時間
斜坡下降快速/作為
故障時斜坡停止/繼續(xù)的順序

紅外測試步驟

電壓

20至5000VDC（1V分辨率）

V75型：
在所有允許的負載條件下20至3000VDC（1V分辨率）2.5％+ 5V精度

紅外

3000V：10MΩ

紅外

DUT電阻，隔離：每V90MΩDUT
電容，隔離：每
V2MΩDUT接地：每V0.1MΩ

電容

3000V：0.03μF
5mA充電電流

紅外精度

<IR的5％：2％（0.1％分辨率）IR的5-15％：5％（1％分辨率）IR的15-30％：10％（1％分辨率）>IR的30％ ：20％（1％分辨率）

測試時間

0.1至9999秒（0.1秒分辨率）或用戶終止

測試延遲

0.0至9999sec（0.1sec分辨率）

排出

內(nèi)部50KΩ放電負載和0.03μF電容性能量

關(guān)掉

高壓端子電流過大：1毫秒內(nèi)
用戶停止：2 毫秒內(nèi)
互鎖打開（如果啟用）：2毫秒內(nèi)
負載擊穿（負載電流突然不受控制地增加）：150微秒內(nèi)
IR限制（如果啟用）：100毫秒內(nèi)
ARC限制（如果啟用）： 1ms以內(nèi)

用戶設(shè)置

電壓電平
DUT隔離/接地
DUT電阻/電容
值 IR限制
。IR限制（可以禁用）
斜坡周期
停留時間
延遲周期
停留結(jié)束通過/失敗/時間/穩(wěn)定或上升
斜坡快速下降/當斜坡
停止/失敗時繼續(xù)

繼續(xù)測試步驟

方法

2端子測量（DC）

測試電流

<10.5毫安

測試電壓

<4.15V

范圍

0Ω至60KΩ

準確性

<0.75Ω：1.5％+0.015Ω（0.001Ω分辨率）
<13Ω：1.5％+0.02Ω（0.01Ω分辨率）13-1000Ω：3％+1Ω（1Ω分辨率）1K-4KΩ：4％（10Ω分辨率）4K -13KΩ：5％（100Ω分辨率）>13KΩ：10％（1KΩ分辨率）

測試時間

0.06至9999秒（0.02秒分辨率）或用戶終止

繼續(xù)漏電

DCW或IR測試步驟：<0.1μA
ACW測試步驟：每個KV設(shè)置<2.5μA（隔離DUT），<5μA（DUT接地）

用戶設(shè)置

 限制（可關(guān)閉）
。極限（可以禁用）
電阻偏移
測試時間
失敗時的停止/繼續(xù)順序

GB測試步驟

方法

4端子測量（AC）

當前

1至30Arms（0.01A分辨率）正弦波，
精度為50或60Hz +/- 0.05％3％+ 10mA

合規(guī)

在所有電流下> 4.5Vrms

開路

<10Vpk

DUT地面

DUT可以與地面隔離或接地。如果接地，則必須在V7X接地的3Vpk之內(nèi)。

范圍

電阻取決于順應(yīng)性和測試電流

準確性

6.5A：2.5％+1mΩ（0.1mΩ分辨率）

測試時間

≤20A：0.1至9999sec（0.02sec分辨率）或用戶終止
> 20-25A：0.1至180sec（0.02sec分辨率）或用戶終止
> 25A：0.1至120sec（0.02sec分辨率）或用戶終止（50％占空比） ）

國標泄漏

DCW或IR測試步驟：<1μA
ACW測試步驟：每個KV設(shè)置<5μA（隔離DUT），<10μA（DUT接地）

用戶設(shè)置

當前電平
頻率
值 限制（可關(guān)閉）
。極限
電阻偏移
測試時間
失敗時的停止/繼續(xù)順序