電壓

50或60Hz +/- 0.05％時(shí)10至5000Vrms（1V分辨率）正弦波
V75型號(hào)：
在所有允許的負(fù)載條件下，50或60Hz +/- 0.05％時(shí)10至2000Vrms（1V分辨率）正弦波

 加載

20mArms（電阻為10mArms，持續(xù)時(shí)間超過(guò)10秒），低于1000V時(shí)每V降低20μA，高于4000V時(shí)每V降低10μA

泄漏精度

直流耦合，真有效值，10Hz-4KHz 3dB帶寬
DUT隔離（<1.1mA）：1％+ 5μA（1μA分辨率）DUT隔離（> 1.1mA）：1％+ 30μA（10μA分辨率）
DUT接地：1％+ 30μA + （每KV 4μA）（10μA分辨率）

ARC限制

禁用或高達(dá)30mA（1mA分辨率）

坡道

0至99.9秒（0.02秒分辨率）

住

0.1至9999秒（0.1秒分辨率）或用戶終止

關(guān)掉

高壓端子電流過(guò)大：1毫秒內(nèi)
用戶停止：2 毫秒內(nèi)
互鎖打開(kāi)（如果啟用）：2毫秒內(nèi)
負(fù)載擊穿（負(fù)載電流突然不受控制地增加）：150μs內(nèi)
泄漏極限（如果啟用）：100毫秒內(nèi)
ARC極限（如果啟用）： 1ms以內(nèi)

用戶設(shè)置

電壓電平
頻率
DUT隔離/接地
最小值 泄漏限制（可以被禁用）
。泄漏極限（可以禁用）
ARC極限（可以禁用）
斜坡周期
停留時(shí)間
斜坡下降快速/作為
故障時(shí)斜坡停止/繼續(xù)的順序

DCW測(cè)試步驟

電壓

20至5000VDC（1V分辨率）
V75型：
在所有允許的負(fù)載條件下20至3000VDC（1V分辨率）1％+ 5V精度

 加載

2000-3000V：7mA（高于2000V時(shí)每伏降低4μA），<0.1μF電容
3000-4000V：3mA（高于3000V時(shí)每伏降低1μA），> 0.05V電容> 4000V：2mA（高于每伏0.5μA降低） 4000V），<0.03μF電容

泄漏精度

DUT隔離電阻（<200μA）：1％+ 1μA（0.1μA分辨率）
DUT隔離電阻（0.2-1.5mA）：1％+ 2μA（1μA分辨率）
否則：1％+ 20μA（10μA分辨率）

ARC限制

禁用或高達(dá)30mA（1mA分辨率）

坡道

電阻DUT：0.1至99.9sec（0.02sec分辨率）
電容DUT：1.0至99.9sec（0.02sec分辨率）

住

0.1至9999秒（0.02秒分辨率）或用戶終止

減速

0秒或按斜坡定義

內(nèi)部放電

50KΩ放電負(fù)載和0.03μF電容能量

關(guān)掉

高壓端子電流過(guò)大：1毫秒內(nèi)
用戶停止：2 毫秒內(nèi)
互鎖打開(kāi)（如果啟用）：2毫秒內(nèi)
負(fù)載擊穿（負(fù)載電流突然無(wú)控制地增加）：150μs內(nèi)

泄漏限制（如果啟用）

在100毫秒內(nèi)
ARC限制（如果啟用）：在1毫秒內(nèi)

用戶設(shè)置

電壓電平
DUT隔離/接地
DUT電阻/電容
最小值 泄漏限制（可以被禁用）
。泄漏極限（可以禁用）
ARC極限（可以禁用）
斜坡周期
停留時(shí)間
斜坡下降快速/作為
故障時(shí)斜坡停止/繼續(xù)的順序

紅外測(cè)試步驟

電壓

20至5000VDC（1V分辨率）

V75型：
在所有允許的負(fù)載條件下20至3000VDC（1V分辨率）2.5％+ 5V精度

紅外

3000V：10MΩ

紅外

DUT電阻，隔離：每V90MΩDUT
電容，隔離：每
V2MΩDUT接地：每V0.1MΩ

電容

3000V：0.03μF
5mA充電電流

紅外精度

<IR的5％：2％（0.1％分辨率）IR的5-15％：5％（1％分辨率）IR的15-30％：10％（1％分辨率）>IR的30％ ：20％（1％分辨率）

測(cè)試時(shí)間

0.1至9999秒（0.1秒分辨率）或用戶終止

測(cè)試延遲

0.0至9999sec（0.1sec分辨率）

排出

內(nèi)部50KΩ放電負(fù)載和0.03μF電容性能量

關(guān)掉

高壓端子電流過(guò)大：1毫秒內(nèi)
用戶停止：2 毫秒內(nèi)
互鎖打開(kāi)（如果啟用）：2毫秒內(nèi)
負(fù)載擊穿（負(fù)載電流突然不受控制地增加）：150微秒內(nèi)
IR限制（如果啟用）：100毫秒內(nèi)
ARC限制（如果啟用）： 1ms以內(nèi)