很多客戶買到貼片電容回去測(cè)試以后發(fā)現(xiàn)貼片電容的容值就有偏低的現(xiàn)象，這時(shí)可能會(huì)會(huì)認(rèn)為我們存在欺騙買家的行為，其實(shí)不是的。下面我們來(lái)分析一下貼片電容的容值為什么會(huì)偏低？導(dǎo)致貼片電容偏低的因素有什么？下面我們一起來(lái)分析一下。

  1. 測(cè)試條件對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

  對(duì)于貼片電容偏低的我們可以考慮一下測(cè)試條件對(duì)貼片電容容值的影響。對(duì)于不同容值的貼片電容需要采用不同的測(cè)試條件來(lái)測(cè)量容值，主要在測(cè)試電壓的設(shè)定和測(cè)試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，貼片電容不同容值的測(cè)試條件為：

  電容AC電壓頻率

  容量＞10uF 1.0±0.2Vrms 120Hz

  1000pF＜容量≤10uF 1.0±0.2Vrms 1KHz

  容量≤1000pF 1.0±0.2Vrms 1MHz

  2. 測(cè)量?jī)x器的差異對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

  大容量的電容（指1uF以上的容值）測(cè)量時(shí)更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電壓兩端的實(shí)際電壓不能達(dá)到測(cè)試條件所需求的電壓，這是因?yàn)榧釉陔娙輧啥说臏y(cè)試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實(shí)際顯示的設(shè)定電壓不一致。在低頻的耦合及去耦電路中，一般對(duì)貼片電容的電容量要求不太嚴(yán)格，只要按計(jì)算值選取稍大一些的電容量便可以了。為了使測(cè)量結(jié)果誤差降，我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實(shí)際加在電容兩端所測(cè)的電壓盡量調(diào)整，使實(shí)際于待測(cè)電容上輸出的電壓一致。

通常的薄膜電容器其制法是將鋁等金屬箔當(dāng)成電極和塑料薄膜重疊后卷繞在一起制成。

 但是另外薄膜電容器又有一種制造法，叫做金屬化薄膜(MetallizedFilm)，其制法是在塑料薄膜上以真空蒸鍍上一層很薄的金屬以做為電極。4、MLCC產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象的解決對(duì)策：高溫烘烤：將測(cè)試容量偏低的產(chǎn)品放置在環(huán)境溫度為：150℃條件下烘烤1hour。如此可以省去電極箔的厚度，縮小電容器單位容量的體積，所以薄膜電容器較容易做成小型，容量大的電容器。

 金屬化薄膜電容器所使用的薄膜有聚乙酯、聚丙烯、聚碳酸酯等，除了卷繞型之外，也有疊層型。

 金屬化薄膜電容器具有一種所謂的復(fù)原作用(SelfHealingAction)，即假設(shè)電極的微小部份因?yàn)殡娊缳|(zhì)脆弱而引起短路時(shí)、引起短路部份周圍的電極金屬，會(huì)因當(dāng)時(shí)電容器所帶的靜電能量或短路電流。

 而引發(fā)更大面積的溶融和蒸發(fā)而恢復(fù)絕緣，使電容器再度回復(fù)電容器的作用。

 以上就是薄膜電容器的特性，隨著技術(shù)水的發(fā)展，薄膜電容器的市場(chǎng)需求將進(jìn)一步呈現(xiàn)快速增長(zhǎng)的趨勢(shì)。

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我們?cè)谑褂弥岸家却_定貼片電容的電容量及允許偏差。

 在低頻的耦合及去耦電路中，一般對(duì)貼片電容的電容量要求不太嚴(yán)格，只要按計(jì)算值選取稍大一些的電容量便可以了。

 在一些特殊的電路中，往往對(duì)貼片電容的電容量要求非常好，此時(shí)應(yīng)選用允許偏差在±0．1％～±0．5％范圍內(nèi)的高精度貼片電容。

在定時(shí)電路、振蕩回路及音調(diào)控制等電路中，對(duì)貼片電容的電容量要求較為嚴(yán)格。

 因此選取電容量的標(biāo)稱值應(yīng)盡量與計(jì)算的電容值相一致或盡量接近，應(yīng)盡量選精度高的貼片電容。

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