材料分子檢測-納米新材料-建筑材料-保溫材料分析
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四川省成都市
項目及關(guān)鍵詞
1、同步輻射吸收譜(XAS)
關(guān)鍵詞:同步輻射測試,XAS,XANES,EXAFS、XANES、SAXS、XAFS、XMCD、XMCD、LIGA、ARPES、成像、真空紫外光電離質(zhì)譜;生物大分子結(jié)構(gòu)分析,Athena,XAFS GIWAXS
項目簡介:
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure,XAFS)也叫做X射線吸收譜(X-ray absorption spectroscopy,XAS),是一種基于同步輻射光源的,研究材料局域原子、電子結(jié)構(gòu)的一種有力的工具。XAFS廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域,主要是基于以下優(yōu)點:
1、不依賴于長程有序結(jié)構(gòu),可用于非晶態(tài)材料的研究;
2、不受其它元素的干擾,可對同一材料中不同的元素分別研究;
3、不受樣品狀態(tài)的影響,可以測量固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等;
4、對樣品無破壞,可以進(jìn)行原位測試;
5、能獲得高精度的配位原子的種類、配位數(shù)以及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù),一般認(rèn)為原子間距的精確度可達(dá)0.01 ?;
6、檢測下限低,最低可達(dá)幾個ppm。
XAFS數(shù)據(jù)解析方面,可提供以下數(shù)據(jù)及服務(wù):
1、XANES部分圖譜,提供價態(tài)、初步結(jié)構(gòu)的定性分析;
2、EXAFS擬合,提供配位原子種類、配位數(shù)和鍵長信息,以及簡單的、從物理角度對譜的分析;
3、wavelet圖譜,作為EXAFS擬合的進(jìn)一步證據(jù),并用小波炫圖提高數(shù)據(jù)分析“逼格”;
4、文章實驗部分及數(shù)據(jù)討論部分的修改,檢查對結(jié)果的描述是否準(zhǔn)確,是否有偏差;
5、幫忙回復(fù)審稿意見中關(guān)于XAFS的問題,提供中文回答。