天光測控晶體管圖示儀 測試范圍廣 曲線分析
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天光測控晶體管圖示儀-測試范圍廣-曲線分析

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西安天光測控技術(shù)有限公司

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品牌 天光測控
型號 ST-SP 2010
測量范圍 ±2.5mV~2KV / ±1nA~100A
測量精度 1%+10mV / 1%+10nA+20pA/V
測試范圍 19類器件（IGBT,MOSFET,Diode等&
測試項目 直流靜態(tài)參數(shù)
柵極電壓 ±2.500mV~20V（選配80V）
柵極電流 ±2.500mV~20V（選配80V）
商品介紹
天光測控晶體管圖示儀 測試范圍廣 曲線分析


● IV曲線顯示/局部放大                           
● 程序保護(hù)*大電流/電壓,以防損壞         
● 品種繁多的曲線
● 可編程的數(shù)據(jù)點(diǎn)對應(yīng)                    
● 增加線性或?qū)?shù)
● 可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱           
● 保存和重新導(dǎo)入入口程序
● 保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象                 
● 曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到EXCEL
● 曲線程序和數(shù)據(jù)自動存入EXCEL            
● 測試范圍廣（19大類、27分類）
ID vs. VDS at range of VGS             ID vs. VGS at fixed VDS IS vs. VSD                             RDS vs. VGS at fixed ID RDS vs. ID at several VGS             IDSS vs. VDS  /  HFE vs. IC                            BVCE（O,S,R,V） vs. IC BVEBO vs. IE                          BVCBO vs. IC VCE（SAT） vs. IC             VBE（SAT） vs. IC VBE（ON） vs. IC （use VBE test）      VCE（SAT） vs. IB at a range of ICVF vs. IF


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公司名稱 西安天光測控技術(shù)有限公司
聯(lián)系賣家 張先生
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地址 陜西省西安市
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