ITC57300動態(tài)測試儀替代品天光測控IGBT動態(tài)參數(shù)測試

ST-DP_1506半導(dǎo)體器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

系統(tǒng)概述

IGBT是廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代中、大功率變換器中的主流半導(dǎo)體開關(guān)器件，其開關(guān)特性決定裝置的開關(guān)損耗、功率密度、器件應(yīng)力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準(zhǔn)確測量功率開關(guān)元件的開關(guān)性能具有極其重要的實際意義。

ST-DP_1506半導(dǎo)體器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)是針對IGBT器件的開關(guān)性特性及IGBT內(nèi)部續(xù)流二極管的反向恢復(fù)特性而專門設(shè)計的一套全自動測試系統(tǒng)，適用于電流不超過1500A和集電極電壓不超過3500V的IGBT器件開關(guān)時間測試以及正向電流不超過2000A的二極管反向恢復(fù)特性的測試。

基礎(chǔ)規(guī)格

規(guī)    格：1800×800×800（mm）

質(zhì)    量：155Kg

環(huán)境溫度：15～40℃

相對濕度：小于80%

大氣壓力：86Kpa～ 106Kpa

電網(wǎng)電壓：AC220V±10%無嚴(yán)重諧波

電網(wǎng)頻率：50Hz±1Hz

參數(shù)/條件