陶瓷化合物是指高純金屬材料的的碳、氮，氧，硫等的化合物，隨著陶瓷化合物材料在高性能陶瓷、發(fā)光材料、光學(xué)鍍膜等方向的研究不斷深入，其在電子半導(dǎo)體、太陽能光伏、光學(xué)器件、液晶顯示等領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。

中諾新材專業(yè)生產(chǎn)加工高純陶瓷化合物靶材，粉末，顆粒等，并可根據(jù)您的需求提供專業(yè)的定制服務(wù)。用于鍍制不同用途的導(dǎo)電膜，介質(zhì)膜等

X射線衍射儀

中諾新材分析測試設(shè)備——X射線衍射儀                                              

  Rigaku 靶材晶向比例分析系統(tǒng)（XRD）可直接用于檢測直徑在500mm以下的固體金屬材料的內(nèi)部織構(gòu)。X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，當(dāng)X 射線照射晶態(tài)結(jié)構(gòu)時(shí)，將受到晶體點(diǎn)陣排列的不同原子或分子所衍射。當(dāng)用波長為λ的單色X射線照射到兩個(gè)晶面間距為d的晶面時(shí)會(huì)發(fā)生布拉格定律衍射，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)）θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。應(yīng)用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象。特征X射線作用于安裝在測角儀上的晶體后產(chǎn)生衍射點(diǎn)，通過檢測器記錄衍射點(diǎn)的強(qiáng)度數(shù)據(jù)。通過計(jì)算機(jī)控制完成衍射的自動(dòng)尋峰、測定晶胞參數(shù)、收集衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)消光規(guī)律，確定空間群等。進(jìn)而計(jì)算晶體結(jié)構(gòu)。

中諾新材分析測試設(shè)備——晶相檢測分析儀                                          

  金相顯微鏡可以對Al、Ti、Ta、Cu、W、Mo、Co、Ni等金屬及其合金材料進(jìn)行專業(yè)的金相分析。該儀器的物境倍數(shù)：5X 10X 20X 40X，目鏡倍數(shù)：10X，可擴(kuò)展性：可配圖像分析系統(tǒng)(數(shù)碼相機(jī)、攝像頭、圖像分析軟件，采用TCI金相圖像分析系統(tǒng)V2.0，可對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進(jìn)行分析研究和表征，包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，主要反映和表征構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯(cuò)）的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間